PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

The development of lec technology for GaAs single crystal growth from laboratory scale to mass production

Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Mass production of SI GaAs single crystals based on an advanced LEC growth process has been established during the last decade of the last century. Two key issues had to be solved : Scaling up of the growth equipment and carbon control. The progress in modelling of thermal heat transfer (radiation, conduction and turbulent convection) due to high computer power and advanced codes has made it possible to optizme the equipment and the processes in rather short time and at lower costs.
Rocznik
Strony
7--17
Opis fizyczny
Bibliogr. 21 poz., rys.
Twórcy
autor
  • Freiberger Compound Materials GmbH, D-09599 Freiberg, Germany, Am Junger Lowe Schacht 5
autor
  • Freiberger Compound Materials GmbH, D-09599 Freiberg, Germany, Am Junger Lowe Schacht 5
Bibliografia
  • [1] Seidl A., dgkk-Mitteilungsblatt 75/Juni 2002, 19 - 20
  • [2| Jacobs K., dgkk-Mitteilungsblatt 76/Dezember 2002, 17
  • [3] Welker H., DE 970420 (1951)
  • [4] Welker H., Z. Natuiforschg. 7a (1952) 744 - 749
  • [5] Welker H., Z. Natuifom-hg. 8a (1953) 248 - 251
  • [6] Gremmelmaier H., Z. Natuiforschg. 11a (1956) 511 - 513
  • [7] Mullin J. B., Straughan B. W., Brickell W. S. J.: Phys. Chem. Solids 26(1965)782
  • [8] Hurle D. T. J., Cockayne B., in: D. T. J. Hurle (Ed.), Handbook of Crystal Growth 2, North Holland, Amsterdam, 1993. 99
  • [9] Fainberg J., Ph.D. Thesis, University Erlangen 2000
  • [10] Fainberg J., H.-J. Leister. G. Müller, J. Ciystal Growth 180 (1997) 517
  • [11] SeidI B., Eichler S., Flade T., Jurisch M.. Köhler A., Kretzer U., Weinert B., J. Oystal Growth 225 (2001) 561
  • [12] Vizman D.. Friedrich J., Mueller G., J. Ciystal Growth 230 (2001), 73
  • [13] Vizman D., Eichler S., Friedrich J., Mueller G. (to be publish)
  • [14] Wirbeleit F: The atomic structure of point defects in semiconductors by improved EPR/ENDOR data analysis, thesis. Technical University Mining Academy Freiberg, 1998 [ 15] http://gttserv.lth.rwth-aachen.de/gtt/
  • [16] Korb J., Flade T., Jurisch M., Köhler A.: Th. Reinhold, B. Weinert, J. Ciyst. Growth 198/ 199 (1999) 343-348
  • [17] Gates W. A., Wenzl H.:,/. Ciyst. Growth 191 (1998) 303-312
  • [18] Emori H., Terashima K., Orito F., Kikuta T. Fukud T., in: D. C. Look, J. S. Blakemore (Ed.), Semi-Insulating III-V Materials, Kahnee-ta, Shiva, Nantwich. 1984. 111
  • [19] Martin G. M., Farges J. P., Jacob G., Hal-lais J. P., Poiblaud G.: J. Appl. Phys. 51 (1980) 2840
  • [20] Pelzer H.. Beiträge zur Porzelkhemie der GaAs-Einkristallsynthese, PhD Thesis. Rheinisch-Westfälische Technische Hochschule Aachen. 2000
  • [21] Eichler S., Seid! A., Börner F, Kretzer U.. Weinert B.: J. Ciyst. Growth 247 (2003) 69-76
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPB2-0011-0009
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.