Wpływ szerokości pasma przenoszenia przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej

• Autorzy: Pawłowski M.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Celem pracy jest określenie wpływu błędu dynamicznego wprowadzanego przez ograniczoną charakterystykę czestotliwościową przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonamej spektroskopii fotoprądowej (PITS). Stwierdzono, że dla dużych szybkosci emisji ograniczone pasmo przetwornika powoduje nieliniowość wykresu Arrheniusa wskutek przesunięcia maksimów widm korelacyjnych w kierunku wyższych temperatur. Opracowano metodę korekcji wpływu wykorzystującą wzory Gear'a, stosowane do numerycznego całkowania równań rożniczkowych. Do eksperymentalnej weryfikacji tej metody wykorzystano rejestracje zanikow fotoprądu charakterystyczne dla centrum A (kompleksu luka-tlen) występującego w próbkach FZ Si:Sn napromieniowanych neutronami.

Słowa kluczowe

PL

spektroskopia fotoprądowa PITS; błąd dynamiczny

EN

photoinduced transient spectroscopy (PITS); dynamic error

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych
• Czasopismo: Materiały Elektroniczne
• Rocznik: 2004
• Tom: T. 32, nr 1-4
• Strony: 23--35
• Opis fizyczny: Bibliogr. 22 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Pawłowski M.

• Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych ul. Wólczyńska 133 01-919 Warszawa,

Bibliografia

• [1] Hurtes C., Boulou M., Mitonneau A. and Bois D.: Deep-level spectroscopy in high-resistivity materials. Appl. Phys. Lett., 32, 1978, 821-823
• [2] Kamiński P.: Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów do badania struktury defektowej półprzewodników typu Prace ITME, 36, 1991
• [3] Look D. C.: The electrical and photoelectronic properties of semi-insulating GaAs. Semiconductors and Semimetals. Ed. Willardson R.K., Beer A. C., New York: Academic Press, 19, 1983, 76
• [4] Pawłowski M., Miczuga M.: Zastosowanie procedury korelacyjnej z wieloimpulsowymi funkcjami wagowymi do dwuwymiarowej analizy widmowej w niestacjonamej spektroskopii fotoprądowej PITS, Materiały Elektroniczne, 29, 3/4, 2001, 5-19
• [5] Istratov A. A.: New correlation procedure for the improvement of resolution of deep level transient spectroscopy of semiconductors, J. Appl. Phys., 82, 6, 1997, 2965-2967
• [6] Kozłowski R.: Niestacjonama spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. Rozprawa doktorska, ITME, 2001
• [7] Layer E., Gawędzki W.: Dynamika aparatury pomiarowej, Badania i oceny. PWN Warszawa, 1991
• [8] Hagel R., Zakrzewski J.: Miernictwo dynamiczne, WNT Warszawa, 1984
• [9] Missalowa J, Missala T.: Elektryczne pomiary wielkości mechanicznych. Rozd. 2.2: Własności dynamiczne przetworników, PWN, Warszawa, 1971, 64
• [10] Reynolds S., Main C., Webb D.P., Grabtchak S.: Bandwidth consideration in modulated and transient photoconductivity measurements to determine localized state distributions, J. Appl. Phys., 88, 1, 2000, 278-282
• [11] Jakubiec J., Roj J. : Pomiarowe przetwarzanie próbkujące. Rozd. 3. Odtwarzanie programowe w przetworniku próbkującym, Wydaw. Politechniki Śląskiej, Gliwice 2000, 233-258
• [12] Nabielec J., Morończyk A.: Programowa korekcja błędu dynamicznego analogowego toru pomiarowego - możliwości i ograniczenia. Metrologia Wspomagana Komputerowo MWK' 99, 07-10.06.1999, Rynia, 111-116
• [13] Nabielec J.: Metoda wyznaczania „w ciemno" współczynników modelu dynamiki toru pomiarowego - wersja całkowa, X Sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych MiSSP'00, 18-22.09.2000 r. Krynica Górska, 1-8
• [14] Minkinia W., Gryś S.: Cyfrowa korekcja „sztywna" dynamicznego przetwarzania termometru, 6, 1999, PAK, 21-24
• [15] Minkinia W., Gryś S.: System cyfrowego korektora charakterystyki dynamicznej termometru, VIII Sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych MiSSP'98, 21-25.09.1998, Krynica Górska, 135-142
• [16] Projekt badawczy KBN nr 8 S501 028 07: Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej do badania głębokich centrów defektowych w materiałach półizolujących typu A"'B^, Sprawozdanie ITME, 1997
• [17] Current amplifier 428, Technical manual, Keithley
• [18] Current amplifier 427, Technical manual, Keithley
• [19] Current amplifier 181, Technical manual, EG&G
• [20] Osiowski J., Szabatin J.: Podstawy teorii obwodów, T. 2, Rozd.6. WNT, Warszawa, 1993
• [21] Chua L., Lin P.: Komputerowe metody analizy układów elektronicznych, WNT, Warszawa, 1981
• [22] Osowski S.: Modelowanie układów dynamicznych z zastosowaniem języka SIMULINK, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 1999