Tytuł artykułu
Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
Abstrakty
Celem pracy jest określenie wpływu błędu dynamicznego wprowadzanego przez ograniczoną charakterystykę czestotliwościową przetwornika konduktancyjno-napięciowego na dokładność wyznaczania parametrów centrów defektowych metodą niestacjonamej spektroskopii fotoprądowej (PITS). Stwierdzono, że dla dużych szybkosci emisji ograniczone pasmo przetwornika powoduje nieliniowość wykresu Arrheniusa wskutek przesunięcia maksimów widm korelacyjnych w kierunku wyższych temperatur. Opracowano metodę korekcji wpływu wykorzystującą wzory Gear'a, stosowane do numerycznego całkowania równań rożniczkowych. Do eksperymentalnej weryfikacji tej metody wykorzystano rejestracje zanikow fotoprądu charakterystyczne dla centrum A (kompleksu luka-tlen) występującego w próbkach FZ Si:Sn napromieniowanych neutronami.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
23--35
Opis fizyczny
Bibliogr. 22 poz., rys., wykr.
Twórcy
autor
- Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych ul. Wólczyńska 133 01-919 Warszawa, mpawlowski@itme.edu.pl
Bibliografia
- [1] Hurtes C., Boulou M., Mitonneau A. and Bois D.: Deep-level spectroscopy in high-resistivity materials. Appl. Phys. Lett., 32, 1978, 821-823
- [2] Kamiński P.: Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii głębokich poziomów do badania struktury defektowej półprzewodników typu Prace ITME, 36, 1991
- [3] Look D. C.: The electrical and photoelectronic properties of semi-insulating GaAs. Semiconductors and Semimetals. Ed. Willardson R.K., Beer A. C., New York: Academic Press, 19, 1983, 76
- [4] Pawłowski M., Miczuga M.: Zastosowanie procedury korelacyjnej z wieloimpulsowymi funkcjami wagowymi do dwuwymiarowej analizy widmowej w niestacjonamej spektroskopii fotoprądowej PITS, Materiały Elektroniczne, 29, 3/4, 2001, 5-19
- [5] Istratov A. A.: New correlation procedure for the improvement of resolution of deep level transient spectroscopy of semiconductors, J. Appl. Phys., 82, 6, 1997, 2965-2967
- [6] Kozłowski R.: Niestacjonama spektroskopia fotoprądowa o dużej rozdzielczości jako nowa metoda badania centrów defektowych w półprzewodnikach wysokorezystywnych. Rozprawa doktorska, ITME, 2001
- [7] Layer E., Gawędzki W.: Dynamika aparatury pomiarowej, Badania i oceny. PWN Warszawa, 1991
- [8] Hagel R., Zakrzewski J.: Miernictwo dynamiczne, WNT Warszawa, 1984
- [9] Missalowa J, Missala T.: Elektryczne pomiary wielkości mechanicznych. Rozd. 2.2: Własności dynamiczne przetworników, PWN, Warszawa, 1971, 64
- [10] Reynolds S., Main C., Webb D.P., Grabtchak S.: Bandwidth consideration in modulated and transient photoconductivity measurements to determine localized state distributions, J. Appl. Phys., 88, 1, 2000, 278-282
- [11] Jakubiec J., Roj J. : Pomiarowe przetwarzanie próbkujące. Rozd. 3. Odtwarzanie programowe w przetworniku próbkującym, Wydaw. Politechniki Śląskiej, Gliwice 2000, 233-258
- [12] Nabielec J., Morończyk A.: Programowa korekcja błędu dynamicznego analogowego toru pomiarowego - możliwości i ograniczenia. Metrologia Wspomagana Komputerowo MWK' 99, 07-10.06.1999, Rynia, 111-116
- [13] Nabielec J.: Metoda wyznaczania „w ciemno" współczynników modelu dynamiki toru pomiarowego - wersja całkowa, X Sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych MiSSP'00, 18-22.09.2000 r. Krynica Górska, 1-8
- [14] Minkinia W., Gryś S.: Cyfrowa korekcja „sztywna" dynamicznego przetwarzania termometru, 6, 1999, PAK, 21-24
- [15] Minkinia W., Gryś S.: System cyfrowego korektora charakterystyki dynamicznej termometru, VIII Sympozjum Modelowanie i Symulacja Systemów Pomiarowych MiSSP'98, 21-25.09.1998, Krynica Górska, 135-142
- [16] Projekt badawczy KBN nr 8 S501 028 07: Zastosowanie niestacjonarnej spektroskopii fotoprądowej do badania głębokich centrów defektowych w materiałach półizolujących typu A"'B^, Sprawozdanie ITME, 1997
- [17] Current amplifier 428, Technical manual, Keithley
- [18] Current amplifier 427, Technical manual, Keithley
- [19] Current amplifier 181, Technical manual, EG&G
- [20] Osiowski J., Szabatin J.: Podstawy teorii obwodów, T. 2, Rozd.6. WNT, Warszawa, 1993
- [21] Chua L., Lin P.: Komputerowe metody analizy układów elektronicznych, WNT, Warszawa, 1981
- [22] Osowski S.: Modelowanie układów dynamicznych z zastosowaniem języka SIMULINK, Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, 1999
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BPB2-0010-0037