Zastosowanie integratora stochastycznego w procesie otrzymywania wyników samotestowania układów hybrydowych

• Autorzy: Jarmolik V. , Gruszewski M.

Warianty tytułu

EN

Mixed signal testing based on compact estimates by stochastic integrator

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy przeprowadzono badanie odwzorowania niesprawności testowanego układu w błędy różnego stopnia. Na podstawie tych badań przedstawiony został taki sposób otrzymywania wyników testowania, który jest najbardziej odpowiedni (pozwala zwiększyć wiarygodność

EN

The work proposes the analysis of an inefficiency of a tested system in different degree errors. On the ground of this examination the most applicable method of receiving test results is presented. It allows to increase the credibility of results during hybrid built-in self-tests.

Słowa kluczowe

PL

samotestowanie; integrator stochastyczny; analizator sygnaturowy

EN

self-testing; stochastic integrator; signature analyser

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
• Rocznik: 2002
• Tom: Z.1
• Strony: 61--69
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., wykr.

Twórcy

autor

Jarmolik V.

• Politechnika Białostocka, Katedra Systemów Komputerowych, ul. Wiejska 45 A, 15-351 Białystok

autor

Gruszewski M.

• Politechnika Białostocka, Katedra Systemów Komputerowych, ul. Wiejska 45 A, 15-351 Białystok

Bibliografia

• [1] R. I. Gruszwicki, A. Ch. Mursajew, W. B. Smołow: Analogowo-cyfrowe urządzenia peryferyjne w systemach mikroprocesorowych; Leningrad 1989.
• [2] W. N. Yarmolik: Kontrolowanie i diagnostyka cyfrowych podzespołów komputerowych; Nauka i technika, Mińsk 1988.
• [3] M. Ohletz: Hybrid Built-In Self-Test (HBIST) for Mixed Analogue/Digital Circuits; IEEE European Test Conference, 1991, 307-316.
• [4] W. N. Yarmolik, I, V. Kaczan: Określenie stopnia błędów, wywoływanych niesprawnością układów cyfrowych; Automatyka i technika komputerowa nr 18, 1989, 101-106.
• [5] M. Soma: Fault Modeling and Test Generation for Sample-and-Hold Circulits; International Symposium on Circuits and Systems, 1991, 2072-2075.
• [6] J. P. Robinson, N. R. Saxena: Simultaneous Signature and Syndrome Compression; IEEE Trans. on CAD Vol. 7 NS, 1988, 584-589.
• [7] W. W. Jakowlew, R. F. Fiedorow: Komputery stochastyczne; Leningrad 1974.