Cyfrowy generator sygnałów sinusoidalnych do testowania i weryfikacji układów analogowo-cyfrowych

• Autorzy: Jarmolik V. , Gruszewski M.

Warianty tytułu

EN

Digital generator of sinusoidal signal for testing and verification of analog-digital circuit

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiony jest cyfrowy generator sygnałów sinusoidalnych, który wchodzić może w skład uniwersalnego modułu do samotestowania układów analogowo-cyfrowych (mixed-signal). Sygnał sinusoidalny okazuje się najbardziej złożonym sygnałem (z punktu widzenia jego kształtowania) w porównaniu z innymi sygnałami (np. trójkątnym, piłokształtnym, czy prostokątnym). Tradycyjnie generator sygnału sinusoidalnego zbudowany jest z układu sterowania i bloku pamięci, w której znajdują się dyskretne próbki 1/4 części okresu tego sygnału. Przedstawione w artykule podejście oparte jest na wykorzystaniu stochastycznego integratora, który jest podstawowym elementem generatora. Praca generatora sprawdzona została przy pomocy symulacji komputerowej.

EN

The article describes the digital generator of sinusoidal signals which can be a part of a universal module designed for a self-testing of mixed-signal systems. The sinusoidal signal appears to be the most complex (considering its construction) in comparison with the others (e.g. triangular, pentagonal, rectangular signals). A standard generator of a sinusoidal signal is built by a control unit and a block of memory. A memory contains discreet samples of 1/4 part of a period of a sinusoidal signal. The approach presented in the article is based on idea of a stochastic integrator- a fundamental constituent of a generator. The work of a generator was tested by a computer simulation.

Słowa kluczowe

PL

samotestowanie; integrator stochastyczny; sygnał sinusoidalny

EN

self-testing; stochastic integrator; sinusoidal signal

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Informatyka
• Rocznik: 2002
• Tom: Z.1
• Strony: 53--61
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., tab., wykr.

Twórcy

autor

Jarmolik V.

• Politechnika Białostocka, Katedra Systemów Komputerowych, ul. Wiejska 45 A, 15-351 Białystok

autor

Gruszewski M.

• Politechnika Białostocka, Katedra Systemów Komputerowych, ul. Wiejska 45 A, 15-351 Białystok

Bibliografia

• [1] M. Ohbletz: Hybrid Built-In Self Test (HBIST) for Mixed Analogue/Digital Circuits; IEEE European Test Conference, 1991, 307-316.
• [2] C. L.Wey: Built-In Self Test (BIST) Strukture for Analog Circuit Fault Diagnosis; IEEE Trans. On Instrumentation and Measurement Vol. 39 N3, 1990, 517-521
• [3] S. Khaled, B. Kaminska, B. Courtois, M. Lubaszewski: Freguency-based BIST for analog circuit testing; 13" VLSI Test Symposium, 1995, 54-59.
• [4] M. Renovell, F. Azais, Y. Bertrand, The Multi-Configuration: A DFT Technique for Analog Circuits;, 14" VLSI Test Symposium, 1996, 54-59.
• [5] W. N. Jarmolik: Kontrolowanie i diagnostyka cyfrowych podzespołów komputerowych, Mińsk, 1988.
• [6] M. Soma: Fault Modeling and Test Generation for Sample-ana-Hold Circuits; International Symposium on Circuits and Systems, 1991, 2072-2075.
• [7] C.Y. Pan, K. T. Cheng: Pseudo-Random Testing and Signature Analysis for Mixed-Signal Circuits; ICCAD'95, 102-107.
• [8] W. E Goroszkow: Elementy urządzeń radioelektronicznych; Mińsk, 1988.
• [9] W. W. Jakowlew, R. F. Fiedorow: Komputery stochastyczne; Leningrad, 1974.