Analiza jakości odwzorowywania optycznego w układach pomiaru luminacji z zastosowaniem matrycy CCD

• Autorzy: Rafałowski M.

Warianty tytułu

EN

Analysis of the imaging quality of optical system with CCD-matrix for luminance measurement

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedyskutowano zasadnicze aspekty, wpływające na jakość odwzorowania opty-cznego rozkładu powierzchniowego luminancji na płaszczyźnie detektora (matrycy CCD). Wymagania jakościowe dla układu optycznego obiektywu są w dużym stopniu zależne od zastosowanego rodzaju i typu detektora analizującego. Omówiono wymagania dla stopnia skorygowania aberracji geometrycznych układu optycznego. Omówiono zja-wiska winietowania geometrycznego i naturalnego oraz sposoby kompensowania wyni-kających stąd błędów powierzchniowych pomiarów fotometrycznych.

EN

The aspects, influencing the imaging quality of the luminance distribution on the CCD-matrix, are discussed. The requirements for the optical system quality are highly dependent on the type of the detector used. The problems of the optical vignetting are also described and compensation possibili-ties of the photometric measurements errors.

Słowa kluczowe

PL

luminacja; matryca CCD

EN

luminace; CCD matrix

• Wydawca: Oficyna Wydawnicza Politechniki Białostockiej
• Czasopismo: Zeszyty Naukowe Politechniki Białostockiej. Elektryka
• Rocznik: 1999
• Tom: Z. 15
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Rafałowski M.

• Politechnika Białostocka, Wydział Elektryczny, ul. Grunwaldzka 11/15, 15-893 Białystok