Badanie stopnia zdefektowania struktury szkieł z układu SiO2-BaO-K2O-NaF za pomocą metody badań czasów życia pozytonów PALS

• Autorzy: Kotynia K. , Filipecki J. , Golis E. , Reben M. , Wasylak J.

Warianty tytułu

EN

Investigation of the structure of SiO2-BaO-K2O-NaF glass system by means of positron lifetime measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Próbki szkieł tlenkowo-fluorkowych z układu SiO2-BaO-K2O-NaF o różnych składach chemicznych poszczególnych komponentów, zostały zbadane metodą spektroskopii czasów życia pozytonów PALS. W oparciu o model Tao-Eldrupa oszacowano rozmiary, występowanie oraz ilości wolnych objętości w tych materiałach. Przeprowadzone badania wykazały istnienie trzech składowych tau 1, tau 2 i tau 3. Składowa tau 1 jest odpowiedzialna za anihilację swobodną pozytonów i anihilację z elektronami defektów punktowych typu wakans. Składowa tau 2 związana jest z występowaniem defektów objętościowych powstających na granicach międzyziarnowych, dyslokacji lub skupisk wakansów. Składowa tau 3 przypisywana jest do anihilacji pick-off pułapkowanie o-Ps przez wolne objętości. Wszystkie występujące wolne objętości w badanych próbkach nie posiadały tych samych rozmiarów.

EN

Positron lifetime spectroscopy PALS has been applied to the investigation of the structure of glass samples from the SiO2-BaO-K2O-NaF glass system. From the Tao-Eldrup formula the occurrence and size of the free volume of investigated glasses was calculated. Three components of the positron lifetime tau 1, tau 2 and tau 3 were obtained. The tau 1 component is responsible for the annihilation of free positrons and the annihilation of electrons vacancy-type of defects. The intermediate lifetime tau 2 corresponds to the annihilation of free positrons with electrons in the bulk material and positron trapping modes, tau 3 corresponds to the pick-off annihilation of o-Ps trapped by free volumes. The size of all free volume were different in all studied glasses.

Słowa kluczowe

PL

anihilacja pozytonów; defekty strukturalne; szkła tlenkowo-fluorkowe; wolne objętości

EN

positron anihilation; structural defects; oxyfluoride glasses; free volumes

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych
• Czasopismo: Szkło i Ceramika
• Rocznik: 2012
• Tom: R. 63, nr 4
• Strony: 12--17
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Kotynia K.

autor

Filipecki J.

autor

Golis E.

autor

Reben M.

autor

Wasylak J.

• lnstytut Fizyki - Akademia im. Jana Długosza w Częstochowie

Bibliografia

• [1] R. Zallen, Fizyka ciał amorficznych, PWN, Warszawa 1994.
• [2] J. FiIipecki, Zjawiska elektronowe w żelazo-niklowych stopach o strukturze amorficznej i polikrystalicznej, WSP, Częstochowa 1983.
• [3] J. Dryzek, Badania defektów sieci krystalicznej metodą anihilacji pozytonów, Uniwersytet Jagieloński, Kraków 1994.
• [4] S.J. Tao, J.Chem.Phys. 56, 5499 (1972).
• [5] M. Eldrup, D. Lighbody, J.N. Sherwood, Positron annihilation in polymers, Chem. Phys. 63 (1981) 51-62.
• [6] B. Ziemba, Technologia szkła, tom 1, Wydawnictwo Arkady, Warszawa 1987.
• [7] J.Filipecki, A.Kocela, P.Korzekwa, K.Filipecka, E.Golis, W.Korzekwa, Investigation of free volume changes in the structure of the polymer bifocal contact lenses using positron lifetime spectroscopy PALS, Polymers in Medicine 41, 13-21 (2011).
• [8] J. Kansy, Microcomputer program for analysis of positron annihilation lifetime spectra, Nucl. Instr. and Meth. Phys. Res. A 374, 235-244(1996).