Metrologia w technikach wytwarzania

• Autorzy: Ratajczyk E.

Warianty tytułu

EN

Metrology for production processes

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Cyfrowe przyrządy konwencjonalne: suwmiarki, mikrometry i czujniki tworzące systemy pomiarowe do pojedynczych wymiarów i do jednoczesnej kontroli wielu wymiarów. Pomiary mikrogeometrii powierzchni urządzeniami przenośnymi, pomiary za pomocą ramion pomiarowych z wykorzystaniem współrzędnościowych maszyn pomiarowych (CMM) w warunkach produkcyjnych, w tym pomiary skaningowe.

EN

Discussed are conventional digital instruments such as slide calipers, micrometers and gauges which represent measuring systems designed for individual measurements and for simultaneous control of multiple measurements. Described are the surface micro geometry measurements applying mobile instruments, and the measurements which are carried out by means of measuring arms on jig type measuring machines (CMM) under production environment conditions including scanning measurements.

Słowa kluczowe

PL

metrologia; system pomiarowy; przyrząd pomiarowy; przyrządy cyfrowe konwencjonalne; maszyna pomiarowa współrzędnościowa; pomiar skaningowy

EN

metrology; measuring system; measuring device; conventional digital instruments; microgeometry measurement; coordinate measuring machine; scanning measurement

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2009
• Tom: R. 82, nr 7
• Strony: 619--626
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz., fot., rys.

Twórcy

autor

Ratajczyk E.

• Politechnika Warszawska

Bibliografia

• 1. W. Jakubiec, J. Malinowski: Metrologia wielkości geometrycznych. WNT Warszawa, 2004.
• 2. S. Adamczak: Pomiary geometryczne powierzchni. Zarysy kształtu, falistość i chropowatość. WNT Warszawa, 2008.
• 3. M. Wieczorowski, A. Cellary, J. Chajda: Przewodnik po pomiarach nierówności powierzchni. Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej Poznań 2003.
• 4. B. Nowicki: Zaawansowane metody opisu i pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Mechanik, (2007) 1, s. 36-41.
• 5. K. E. Oczoś, V. Liubimov: Rozważania nad istotnością parametrów struktury geometrycznej powierzchni w układzie 3D. Mechanik, (2008) 3, s. 129-137.
• 6. PN EN-ISO 4287:1999 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Terminy, definicje i parametry struktury geometrycznej powierzchni.
• 7. E. Ratajczyk: Współrzędnościowa technika pomiarowa. Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej Warszawa 2005.
• 8. E. Ratajczyk: Ramiona pomiarowe. Mechanik nr 12/2008, nr 1, 2/2009.
• 9. E. Ratajczyk: Roboty i centra pomiarowe. Pomiary Automatyka Robotyka - PAR 3/2009, s. 6 - 13.
• 10. E. Ratajczyk: Pomiary skaningowe w technice współrzędnościowej. Pomiary Automatyka Robotyka - PAR 5/2009, s. 5-11.