Wyznaczanie parametrów sieci krystalicznej metodą dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów (CBED)

• Autorzy: Gigla M. , Pączkowski P. , Kostka A. , Prusik K. , Morawiec H.

Warianty tytułu

EN

Determination of the lattice parameters using Convergent Beam Electron Diffraction (CBED) method

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Metoda dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów została zastosowana do wyznaczania parametrów sieci krystalicznej. Dzięki zastosowaniu unikalnego programu komputerowego, osiągnięto dobrą dokładność wynoszącą 0,00025 nm. Automatyczna detekcja pozycji linii HOLZ na eksperymentalnych obrazach CBED w oparciu o transformatę Hough'a, pozwoliła na skrócenie czasu analizy, a w szczególności, na osiągnięcie sub-pikselowej precyzji wyznaczenia położenia tych linii. Użycie w eksperymencie orientacji osi pasów o wysokich wskaźnikach hkl umożliwiło pominięcie niezwykle czasochłonnych - dynamicznych symulacji obrazów CBED.

EN

The CBED method was used for determination of the lattice parameters of a silicon single crystal. A computer program written for this application allow to achieve a good accuracy of 0.00025 nm. The Hough transform was applied for detection of the HOLZ line positions on the experimental CBED patterns, with the sub-pixels precision. In the experiment the high hkl indices CBED patterns were used, which allowed to omit the time consuming dynamical simulations of the CBED patterns.

Słowa kluczowe

PL

parametry sieci krystalicznej; metoda dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów; metoda CBED

EN

lattice parameters; Convergent Beam Electron Diffraction method; CBED method

• Wydawca: Wydawnictwo Uniwersytetu Śląskiego
• Czasopismo: Archiwum Nauki o Materiałach
• Rocznik: 2003
• Tom: T. 24, nr 2
• Strony: 113--127
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Gigla M.

• Uniwersytet Śląski, Instytut Fizyki i Chemii Metali, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

autor

Pączkowski P.

• Uniwersytet Śląski, Instytut Fizyki i Chemii Metali, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

autor

Kostka A.

• Uniwersytet Śląski, Instytut Fizyki i Chemii Metali, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

autor

Prusik K.

• Uniwersytet Śląski, Instytut Fizyki i Chemii Metali, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

autor

Morawiec H.

• Uniwersytet Śląski, Instytut Fizyki i Chemii Metali, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

Bibliografia

• [1] D . B . Williams, C . B Carter in: Transmission Electron Microscopy, Plenum Press,New York 1996 p. 301-317.
• [2] R. Wittmaan , C- Parzinger, D.D. Gerthsen Ultramicroscopy 70. 145 (1998).
• [3] S. Kriimer, J. Mayer . C Witt, A. Weickenmeier, M. Ruhle, Ultramicros- 81, 245 (2000).
• [4] Hough , P.V.C, US Patent 3,069654, 1962.
• [5] S. Krämer. J. Mayer, J. Microscopy 194, 2 (1999).
• [6] J A . Vananti , Local Strain Fields in: Al-based Metal Matrix Composities, Swiss Federal Institiute of Technology, Zurich, 1999.
• [7] Y. P. Lin, D. M. Bird, R. Vincent , Ultramicroscopy 27, 233 (1989).
• [8] U. Kaiser, K. Saitoh, K. Tsuda , M. Tanaka, J. of Electron Microscopy 48 (3): (1999), 221.
• [9] J. Hartwig , J. Bak-Misiuk , H. Berger, H. G. Brühl, Y. Okada , S. Grosswig , K. Wokulska, J. Wolf , Phys. Stat., Sol., (a) 19, 142 (1994).
• [10] V. Tvergaard, Acta Metal. Mater., 38, 185 (1990).
• [11] H. Rose, D. Krahl, in: L. Reimer in: (Ed.), Energy Filtering Transmission Electron Microscopy, Springer, Berlin, 1995.
• [12] A. Kostka, J. Lelątko, M. Gigla, H. Morawiec, A Janas, Kompozyty (Composites) 1, 357 (2001).