New challenge for instrumentation in lab and industry: X-ray measurements on surfaces of large components.

• Autorzy: Haase A.

Warianty tytułu

PL

Nowe rozwiązania w wyposażeniu laboratoryjnym i przemysłowym w zakresie pomiarów rentgenowskich powierzchni dużych elementów (konstrukcji).

• Konferencja: V Ogólnopolska Konferencja Naukowa "Obróbka powierzchniowa" '2002, Częstochowa Kule, 18-20 wrzesień 2002
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

A new Diffractometer 'ETA' for surface gradient investigations has been designed to study polycrystalline materials in the near surface region. In contrast to standard instrument geometry for phase, texture and stress analysis on homogeneous materials it is possible to perform measurements on materials with gradient fields like stress, texture and composition gradient of some combination of it. The new 5-circle diffractometer concept allows for a Theta-Theta Bragg reflection condition a sample rotation Eta around the scattering vector for fixed positions (Phi, Chi) with respect to the sample system. Information of depth distribution of gradients compared to classical average penetration results can be described in applications of thin films or gradient standards.

PL

Nowy dyfraktometr "Eta" do pomiaru podpowierzchniowych gradientów został skonstruowany tak, by zbadać polikrystaliczne materiały w obszarach w warstwach podpowierzchniowych. W przeciwieństwie do geometrii standardowych urządzeń do badania faz, tekstur i analizy naprężeń w jednorodnych materiałach, tutaj możliwe jest przeprowadzenie pomiarów dla materiałów z gradientowym polem naprężeń, tekstury i gradientem składu chemicznego lub kombinacji powyższych. Koncepcja nowego 5-cio łukowego dyfraktometru pozwala na: spełnienie warunków odbicia Braggowskiego typu Theta-Theta, rotacji próbki ETA dookoła wektora rozproszenia dla stałej pozycji (Phi, Chi) w odniesieniu do systemu próbki. Informacje odnośnie głębokości dystrybucji gradientów porównane do klasycznej średniej penetracji mogą być opisane w zastosowaniach do cienkich folii lub gradientowych standardów.

Słowa kluczowe

EN

lab instrumentation; industry instrumentation; X-ray measurements; surface; large components; non-destructive surface testing; diffraction geometry; distribution of gradient; thin film

PL

wyposażenie laboratoryjne; wyposażenie przemysłowe; pomiary rentgenowskie; powierzchnia; element duży; nieniszczące badania powierzchni; dyfrakcja geometryczna; dystrybucja gradientów; cienka folia

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Inżynieria Materiałowa
• Rocznik: 2002
• Tom: R. XXIII, nr 5
• Strony: 707--707

Twórcy

autor

Haase A.

• Agfa NDT Pantak Seifert GmbH & Co. KG., Business Unit Seifert Analytical X-ray, Germany