Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
Identyfikatory
Warianty tytułu
Profile analysis of diffraction lines of Fe-13.7Cr-24.3Ni-1.9Ti-1.3Mo alloy
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy dokonano analizy profilu linii dyfrakcyjnych, wykorzystując procedurę Toranyi dla litych próbek polikrystalicznego austenitycznego stopu Fe-13,7Cr-24,3Ni-1,9Ti-1,3Mo po obróbce cieplnej. Procedura Toranyi umożliwia doapsowanie profili zarówno pojedynczych linii dyfrakcyjnych, jak i całego rentgenogramu polikrystalicznego. W odróżnieniu od rezultatów uzyskanych przez Torayę dla modelowego materiału proszkowego alfa-SiO2, w niniejszej pracy stwierdzono złożoną zależność wartości poszczególnych parametrów opisujących profile linii dyfrakcyjnych od kąta dyfrakcji 2 teta dla badanych próbek. Jest to związane ze specyfiką badanego materiału, jakim jest stop austenityczny. Porównano wartości stałych sieciowych wyznaczonych za pomocą funkcji ekstrapolacyjnej cos kwadrat teta na podstawie położeń linii dyfrakcyjnych uzyskanych w wyniku dopasowania profili pojedynczych linii dyfrakcyjnych z wartościami otrzymanymi w wyniku dopasowania profili linii dyfrakcyjnych całego rentgenogramu Rietvelda. Stwierdzono dobrą zgodność wartości stałych sieciowych z użyciem funkcji ekstrapolacyjnej i metodą Rietvelda.
Profiles of diffraction lines using Toraya procedure for heat-treated, solid samples of polycrystalline, austhenitic Fe-13.7Cr-24.3Ni-1.9Ti-1.3Mo alloy were analysed. Toraya procedure enables the fitting of both individual diffraction lines and the whole powder pattern. Contrary to the results obtained by Toraya for alpha-SiO2 powder material a complex dependence of the values of particular profile parameters of diffraction lines on the diffraction angle 2 theta was found. This is connected with the specific nature of the solid, austhenitic alloy. The values of lattice constants estimated with the use of the 2 theta extrapolation function basing on the diffraction line on the positions determined by individual diffraction line fitting were compared with the ones determined by the whole powder pattern fitting procedure and by the Rietveld method. Good agreement between the values of lattice constants determined using the extrapolation function and the Rietveld method was found.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
51--66
Opis fizyczny
Bibliogr. 13 poz., rys.
Bibliografia
- [1] Z. Bojarski, E. Łągiewka, Rentgenowska analiza strukturalna. Wyd. II. Wyd. Uniw. Śląskiego, Katowice 1995.
- [2] H. Toraya, J. Appl. Cryst., 19, 440 (1986).
- [3] H. Rietveld, J. Appl. Cryst, 2, 65 (1969).
- [4] R. A. Young, D. B. Wiles, Adv. in X-ray analysis, 24, 1 (1980).
- [5] R. A. Young, Editor, The Rietveld method. Oxford University Press 1993.
- [6] L. B. Mc Cusker, R. B. Von Dreele, D. E. Cox, D. Louër, P. Scardi, J. Appl.Cryst., 32, 36 (1999).
- [7] H. G. Scott, Abstract of International Symposium on X-ray Powder Diffractometry. Fremantle, p. 88.
- [8] E. Jansen, W. Schäfer, G. Will, J. Appl. Cryst, 21, 229 (1988).
- [9] G. S. Pawley, J. Appl. Cryst, 14, 357 (1981).
- [10] M. S. Paterson, J. Appl. Phys., 23, 805 (1952).
- [11] C. N. J. Wagner, J. C. Helion, J. Appl. Phys., 36, 2830 (1965).
- [12] L. Velterop, R. Delhez, Th. H. de Keijser, E. J. Mittemeijer, D. Reefman, J. Appl. Cryst, 33, 296 (2000).
- [13] P. Scardi, M. Leoni, J. Appl. Cryst, 32, 671 (1999).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS5-0004-0039