PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

The hardness of CrN, NbN, TiN layers deposited on monocrystalline Si wafers.

Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Twardość warstw CrN, NbN, TiN osadzanych na płytkach Si o orientacji (100).
Konferencja
XVIth Physical Metallurgy and Materials Science Conference on Advanced Materials and Technologies AMT'2001, Gdańsk-Jurata, 16-20 September 2001
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
We present the results of the technological preparation of thin films of nitrides, which allow obtain higher surface hardness and very important magneto-resistance properties, when composed in superlattices. The enhanced hardness of such multilayers was 82 GPa and MR more as 80%.
PL
Przedstawiono wyniki technologiczne i właściwości cienkich warstw azotków chromu, tytanu i niobu. Warstwy były otrzymywane przez reaktywne rozpylanie magnetronowe. Warstwy osadzane na podłożu z monokrystalicznego krzemu wykazywały twardość kompozytu w postaci supersieci równą ~ 82 GPa a magnetorezystancję - 80% lub więcej.
Rocznik
Strony
957--960
Opis fizyczny
Bibliogr. 16 poz. tab., rys.
Twórcy
  • Institute of Materials Engineering, Department of Metallurgy and Materials Engineering, Technical University of Częstochowa
  • Institute of Electron Technology, Warsaw
autor
  • Institute of Materials Engineering, Department of Metallurgy and Materials Engineering, Technical University of Częstochowa
autor
  • Institute of Materials Engineering, Department of Metallurgy and Materials Engineering, Technical University of Częstochowa
  • Institute of Materials Engineering, Department of Metallurgy and Materials Engineering, Technical University of Częstochowa
  • Technical University of Częstochowa, Department of Metallurgy and Materials Engineering, Institute of Materials Engineering
Bibliografia
  • [1] H. Haberland, Physics World, 13,(12) 27 (2000)
  • [2] D.Tabor, Rev. Phys. Technol., 1, 145 (1970)
  • [3] R.Smith, G. Sandland, J.Iron. Steel Inst., 1, 285 (1925)
  • [4] F. Knoop, C.G. Peters, W.R. Emerson, J. Res. Nat. Bur. Stand., 23, 39 (1939)
  • [5] J.S. Koehler, Phys. Rev., B2, 547 (1970)
  • [6] S.L. Lehoczky, J. Appl. Phys., 49, 876 (1978)
  • [7] W.M.C. Young, T. Tsalakos, J. Appl. Phys., 48, 876 (1977)
  • [8] E. Warren, J. Pickett, Phys. F: Met. Phys., 12, 2195 (1982)
  • [9] G.E. Henein, J.E. Hilliard, J. Appl. Phys., 54, 728 (1983)
  • [10] T. Tsalakos, J.E. Hilliard, J. Appl. Phys., 54, 734 (1983)
  • [11] R.C. Cammarata, K. Sieradzki, Phys. Rev. Lett., 62, 2005 (1989)
  • [12] U. Helmerrsson, S. Todorova, S.A. Barnett, J. Appl. Phys., 62,481 (1987)
  • [13] Xu Junhua, Li Geyang, Gu Mingyuuuan, Thin Solid Films, 370,45 (2000)
  • [14] B. Jönssen, S. Hogmark, Thin Solid Films, 114, 257 (1984)
  • [15] E. Vancouille, J.P. Celis, J.R. Roos, Thin Solid Films, 224, 168 (1993)
  • [16] J. Takadoum, H. Houmid Bennani, Surface and Coatings Technology: 272 (1997)
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS5-0003-0076
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.