Preparation and characterisation of polycrystalline, nanocrystalline and amorphous Co-Ti thin films.

• Autorzy: Smardz K. , Smardz L.

Warianty tytułu

PL

Otrzymywanie i charakterystyka polikrystalicznych, nanokrystalicznych i amorficznych cienkich warstw Co-Ti.

• Konferencja: XVIth Physical Metallurgy and Materials Science Conference on Advanced Materials and Technologies AMT'2001, Gdańsk-Jurata, 16-20 September 2001
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

Co/Ti multilayers with wedge-shaped Co or Ti sublayers were prepared using UHV (5x10 to the -10 mbar) DC/RF magnetron sputtering. The planar growth of the Co and Ti layers was confirmed in-situ by X-ray photoelectron spectroscopy. Cobalt sublayers grow on sufficiently thick titanium sublayers in the soft magnetic nanocrystalline phase up to a critical thickness dcrit~3.0 nm. For a thickness greater than dcrit, the Co sublayers undergo a structural transition to the polycrystalline phase with much higher coercivity. Furthermore, we have prepared amorphous and polycrystalline Co-Ti alloy films by in-situ annealing of the nanocrystalline Co/Ti multilayers.

PL

Warstwy wielokrotne Co/Ti, z subwarstwami Co i Ti w kształcie klina, otrzymano metodą rozpylania magnetronowego UHV (5x10 do -10 potęgi mbar) DC/RF. Wzrost planarny warstw Co i Ti został potwierdzony in-situ przy użyciu rentgenowskiej spektroskopii fotoelektronów. Subwarstwy Co rosną na dostatecznie grubej subwarstwie tytanu w miękkiej magnetycznie fazie nanokrystalicznej do grubości krytycznej dcrit~3.0 nm. Dla grubości większych niż dcrit, subwarstwy Co rosną w fazie polikrystalicznej o znacznie większej koercji. Ponadto, otrzymaliśmy amorficzne i polikrystaliczne warstwy stopowe Co-Ti poprzez wygrzewanie in-situ warstw wielokrotnych Co/Ti.

Słowa kluczowe

EN

polycrystalline thin films; nanocrystalline thin films; amorphous thin films; multilayer; wedge-shaped sublayers; thickness

PL

cienkie warstwy polikrystaliczne; cienkie warstwy nanokrystaliczne; cienkie warstwy amorficzne; warstwy wielokrotne; subwarstwy w kształcie klina; grubość

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Inżynieria Materiałowa
• Rocznik: 2001
• Tom: R. XXII, nr 5
• Strony: 850--853
• Opis fizyczny: Bibliogr. 16 poz. rys.

Twórcy

autor

Smardz K.

• Institute of Materials Science a. Engineering, Poznań University of Technology, Poland

autor

Smardz L.

• Institute of Molecular Physics, Polish Academy of Sciences, Poznań, Poland

• Poznań University of Technology, Institute of Materials Science a. Engineering, Poland

Bibliografia

• [1] Smardz L, Le Dang K., Niedoba H., Chrzumnicka K.: J. Magn. Magn. Mater. 140-144 (1995) 569.
• [2] Smardz L.: Sol. State Comm.: 112 (1999) 693.
• [3] Samwer K.: Phys. Reports 161(1988) 3.
• [4] Smardz K.: PhD Thesis, Institute of Molecular Physics, Polish Academy of Sciences, Poznań (Poland), 1999.
• [5] Lee G.M., Kim K.W., Kudryavtsev Y.V., Smardz L., Lee Y.p.: Thin Solid Films 341 (1999) 165.
• [6] Lee Y.P., Lee G.M., Kim K.V., Kudryavtsev Y.V., Smardz L.: J. Magn. Soc. Japan, 23 (1999) 361.
• [7] Chainet E., de Crescenzi E., Derrien J., Nguyen T.T.A., Cinti R.C.: Surf. Sci. 168 (1986) 801.
• [8] D’anterroches C.: Surf. Sci. 168 (1986) 751.
• [9] The Physics and Chemistry of SiO₂ and the Si-SiO₂ Interface, edited by C.R. Helms and B.E. Deal (Plenum, New York, 1988).
• [10] Smardz L., Köbler U, Zinn W.: J. Appl. Phys. 71 (1992) 5199.
• [11] Smardz L., Köbler U., Kerkmann D., Schumann W., Pescia D., Zinn W.: Z. Phys. B – Cond. Matt. 80 (1990)1.
• [12] Smardz L., Kowalczyk A., Jezierski A.: J. Magn. Magn. Mater. 205 (1999) 209.
• [13] Briggs D.: in: Handbook of x-ray and ultraviolet photoelectron spectroscopy, ed. D, Briggs (Heyden & Son Ltd., London – Philadelphia – Rheine, 1977) p. 153 and references therein.
• [14] Smardz L., Smardz K.: to be published.
• [15] Smardz L., Smardz K., Czajka R.: presented at 1st Int. Symp. on Scanning Probe Spectroscopy and Related Methods, Poznań 1997, Poland.
• [16] Herzer G.: J. Magn. Magn. Mater. 157/158 (1996)133.