Wpływ "lotu" końcówki pomiarowej na dokładność oceny parametrycznej struktury geometrycznej powierzchni

• Autorzy: Żyłka W. M.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W związku z długim czasem trwania pomiarów struktury geometrycznej powierzchni (SGP), wielu naukowców oraz producentów urządzeń pomiarowych zaczęło skupiać swą uwagę nad możliwością skrócenia czasu badań. Dzięki wieloletnim staraniom, pojawiła się możliwość zwiększenia prędkości przesuwu końcówki pomiarowej podczas badań chropowatości powierzchni. Pojawiły się skaningowe systemy pomiarowe chropowatości powierzchni, dające możliwość pomiaru z prędkością nawet do 3000/jm/s. W tym samym czasie naukowcy, zaczęli zastanawiać się nad wpływem prędkości pomiaru na dokładność oceny parametrycznej SGP. Twierdzono, że prędkość skanowania powierzchni jest bardzo ważnym czynnikiem w zachowaniu stałego kontaktu igły pomiarowej z badaną powierzchnią.

Słowa kluczowe

PL

struktura geometryczna powierzchni; pomiar; metrologiametrologia

EN

surface geometrical structure; measurement; metrology

• Wydawca: AWART MEDIA
• Czasopismo: Obróbka Metalu
• Rocznik: 2010
• Tom: nr 1
• Strony: 40--42
• Opis fizyczny: 44, Bibliogr. 14 poz., rys.

Twórcy

autor

Żyłka W. M.

Bibliografia

• 1. www.kla-tencor.com: Kla-Tencor Corporation Metrology Group: Roughness Measurements With A Stylu Profiler. USA 5/95 M-DS-AN4.
• 2. Pawlus P.: Topografia powierzchni, pomiar, analiza, oddziaływanie., Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów 2005.
• 3. McCool J.I.: Assessing the effect of stilus tip radius and flight on surface topography measurement. Transaction of the ASME. Journal of Tribology, 106,1984, 202-210.
• 4. Song J., VorburgerT.V.: Stylus flight in surface profiling. J. Manuf. Sei. Engr., 118, 1996, 188-r 196.
• 5. Whitehouse D.J.: Handbook of Surface Metrology. Inst. Of Physics, Bristol and Philadelphia 1994.
• 6. Pawlus P., Śmieszek M.: The effect of stylus flight on surface topography measurement. Proc. XI Int. Coll. On Surfaces, Chemnitz 2004, pt. 1, 60-70.
• 7. Wieczorkowski M.,: Wykorzystanie analizy topograficznej w pomiarach nierówności powierzchni., Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań 2009.
• 8. Abbott E.J. In.,The Profilometr,Mech.Eng., 1938,60,205- 216.
• 9. Abbott E.J., Firestone F.A.,Specyfyling surfach quality. Mech.Eng.,1933, 55, 569-572.
• 10. Abbott E.J.,Goldschmidt E„ Surfach qualit. Mech.Eng., 1937,59,813-8225.
• 11. Reson R.E., Surface finish and its measurment, J.lnst.Prod.Eng., 1944,23, 347-372.
• 12. Rogala P., Brzozowski Т., Systemy zarządzania jakością i środowiskiem, Wydawnictwo Akademii Ekonomicznej we Wrocławiu, Wrocław 2003.
• 13. Sankar T.S., Osman М.О.М.,Profile characterization of manufactured surfaces using randon function excurision technice, II application, Trans.ASME, J.Eng.Ind.,1975, 97, 196-202.
• 14. Żyłka W.: Wybór strategii pomiaru struktury geometrycznej powierzchni w układzie trójwymiarowym. Praca doktorska., Rzeszów 2008