Uwarunkowania i ograniczenia cyfrowego pomiaru nierówności profili powierzchni

• Autorzy: Boryczko A.

Warianty tytułu

EN

Terms and constraints to digital measurements of the surface roughness profile methods

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Pomiar zdeterminowanych wartości nierówności profili powierzchni wyrażanych cyfrowo jest złożonym problemem interdyscyplinarnym, który ma istotne ograniczenia techniczne i metrologiczne, często niezauważane w praktyce pomiarowej i analizie ich wyników. Aby spełnione były różne uwarunkowania zależne od charakteru nierówności oraz celu i założeń badania powierzchni, należy przyjąć odpowiednie cyfrowe parametry pomiaru profili powierzchni przed pomiarami. W artykule podano uwarunkowania i usystematyzowano ograniczenia pomiaru nierówności powierzchni w szerokoczęstotliwościowym ujęciu składowych profili.

EN

Explained are the constraints to the surface roughness measurements in wide-frequency profile components depiction.

Słowa kluczowe

PL

pomiar geometryczny; nierówność

EN

geometry measurement; roughness

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 2010
• Tom: R. 83, nr 12
• Strony: 957--962
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys., tabl.

Twórcy

autor

Boryczko A.

• Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Wydział Mechaniczny Politechniki Gdańskiej

Bibliografia

• 1. S. ADAMCZAK: Normalizacja pomiarów struktury geometrycznej powierzchni. Ocena chropowatości i falistości powierzchni. Zasady i warunki prowadzenia pomiarów. Cz. 9. Mechanik 79(2006)3, 180-183.
• 2. A. BORYCZKO: Conditions for measurement, analog-to- -digital conversion and frequency analysis of irregularities of profile surface. Metrology and Measurement Systems, vol. IX (2002)2, 157-167.
• 3. A. BORYCZKO: Metoda analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych w diagnozowaniu układu obróbkowego. Monografie 42, Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej Gdańsk 2003.
• 4. Z. KULKA, A. LIBURA, M. NADACHOWSKI: Przetworniki analogowo-cyfrowe i cyfrowo-analogowe. Warszawa WKiŁ 2004.
• 5. R. G. LYONS: Wprowadzenie do cyfrowego przetwarzania sygnałów. Warszawa WKiŁ 2000.
• 6. J. RAJA, B. MURALIKRISHNAN, FU SHENGYU: Recent advances in separation of roughness, waviness and form. Precision Engineering, vol. 26(2002), 222 - 235.
• 7. T. P. ZIELIŃSKI: Cyfrowe przetwarzanie sygnałów. WKiŁ 2007.
• 8. PN-EN ISO 11562:1998 Specyfikacje geometrii wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni: metoda profilowa. Charakterystyki metrologiczne filtrów z korekcją fazy
• 9. PN-ISO 4288:1997 Wymagania geometryczne wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni, metoda profilowa