Mikrometrologia wielkości geometrycznych. Cz. II. Głowica pomiarowa

Swornowski, P.

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Mikrometrologia wielkości geometrycznych. Cz. II. Głowica pomiarowa

Autorzy

Swornowski P.

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma

http://www.mechanik.media.pl/

Identyfikatory

Warianty tytułu

Micrometrology approach to geometric features

Języki publikacji

Abstrakty

W pierwszej części artykułu (Mechanik 1/08 s. 36) przedstawiono krótki przegląd współrzędnościowych maszyn pomiarowych mogących pracować w mikrometrologii (mikroWMP). Nieodzownym uzupełnieniem takiego systemu jest odpowiednia głowica pomiarowa.

Measuring head specification as an indispensable factor in micrometrologic assessment of geometric features.

Słowa kluczowe

mikrometrologia wielkości geometryczne głowica pomiarowa

micro-metrology geometric features measuring head

Wydawca

Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich

Czasopismo

Mechanik

Rocznik

2008

Tom

R. 81, nr 2

Strony

102--104

Opis fizyczny

106, Bibliogr. 18 poz., tabl., rys.

Twórcy

autor

Swornowski P.

Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych Instytutu Technologii Mechanicznej Politechniki Poznańskiej

Bibliografia

1. К. TAKAMASU i in.: Development of Nano-CMM and Parallel-CMM. CMM in the 21th Century. International Dimensional Metrology Workshop, 1999 Tennessee, USA.
2. J. SŁADEK, P. BIERNAT: Stan rozwoju mikrometru współrzędnościowej. Mat. Konf. Metrologia w technikach wytwarzania, Lublin, 15-17.09.2005. Przegląd Mechaniczny, 9/2005 suplement, s. 160-И63.
3. F25. Measuring Nanometers. Materiały informacyjne firmy Zeiss, 2004.
4. Design for assembly applied on a nano probe. IOP Precision Technology. Internet: http://www.c2v.nl/
5. Internet: http://www.ptb.de/
6. U. BRAND i in.: 3D-Mikrotaster Braunschweig. VDI-Berichte, nr 1669/2003, s. 117 -125.
7. M. MIGACZ: Współrzędnościowa maszyna pomiarowa F25 do pomiarów systemów mikrotechnologii. Mechanik 3/2006, s. 166-167.
8. T.S. LENG., X. GAN, C.ZHIXIA: Overview of u-CMMs- Current Status and Applications, APMP TCL Workshop, Nanometrology Programme at SPRING. Singapore 2005.
9. E. BOS i in: A calibration setup for a new type of nano probe. Internet: http://www.mate.tue.nl/
10. ISARA. Ultra Precision CMM. IBS Precision Engineering bv Eindhoven, the Netherlands. Internet: http://www.nancmm.nl/
11. Internet: http://www.mitutoyo.com/
12. F. MELI, A. KÜNG, R. THALMANN: Ultrapräzises Koordinatenmessgerät für Mikroteile. Koordinatenmesstechnik, met INFO Vol. 12, No. 3/2005, s. 4 - 10. Internet: http://www.metas.ch/
13. Internet: http://www.metas.ch/
14. MELI i in.: Tastsinn von Koordinatenmessgeräten verfeinert. F. MetINFO. Vol. 10, 1/2003, s. 4 - 10.
15. U. BRAND, T. KLEINE-BESTEN, H. SCHWENKE: Development of a special CMM for dimensional metrology on microsystem components. ASPE 15th Annual Meeting in Scottsdale, Arizona, USA, 2000, s. 1 - 5.
16. H. SCHWENKE i in.: Future challenges in co-ordinate metrology: addressing metrological problems for very small and very large parts. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig, Germany, Internet: http://www.ptb.idw.2001/
17. K.C. FAN i in.: Development of a low-cost micro-CMM for 3Dmicro/hano measurements. Meas. Sei. Technol., 17/2006, s. 524 - 532.
18. KUANG-CHAO F. i in.: A Micro-CMM for Non-contact 3D Measurement in Meso Scale. ICMT 2004 Keynote paper, Wietnam, s. 1 - 6.

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BOS4-0018-0046