Mikrometrologia wielkości geometrycznych. Cz. I. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe

Swornowski, P.

Artykuł - szczegóły

Tytuł artykułu

Mikrometrologia wielkości geometrycznych. Cz. I. Współrzędnościowe maszyny pomiarowe

Autorzy

Swornowski P.

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma

http://www.mechanik.media.pl/

Identyfikatory

Warianty tytułu

Application of micrometric methods for assessment of a component geometric features. Part I. Jig system measuring machine

Języki publikacji

Abstrakty

Artykuł zawiera przegląd współrzędnościowych maszyn do mikropomiarów (mikroWMP).

A review of jig type machines designed for application in micro range measurements (microWMP).

Słowa kluczowe

mikrometrologia maszyna pomiarowa współrzędnościowa

micro-metrology coordinate measuring machine

Wydawca

Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich

Czasopismo

Mechanik

Rocznik

2008

Tom

R. 81, nr 1

Strony

36--36

Opis fizyczny

38-40, Bibliogr. 18 poz., tabl., rys.

Twórcy

autor

Swornowski P.

Zakład Metrologii i Systemów Pomiarowych, Instytut Technologii Mechanicznej Politechniki Poznańskiej

Bibliografia

1. K. TAKAMASU i in.: Development of Nano-CMM and Parallel-CMM. CMM in the 21th Century. International Dimensional Metrology Workshop 1999 Tennessee, USA.
2. T. S. LENG, X. GAN, С. ZHIXIA: Overview of μ-CMMs-Current Status and Applications, APMP TCL Workshop, Nanometrology Programme at SPRING, 2005, Singapore.
3. H. HAITJEMA, W. O. PRIL, P. SCHELLEKENS: Development of a silicon-based nanoprobe system for 3D measurements. Ann. CIRP, 50/2001, s. 365 - 368.
4. A. WECKENMANN, G. PEGGS, J. HOFFMANN: Probing systems for dimensional micro and nano metrology. Proc. ISMTII 2005, Huddersfield, UK, s. 199 - 206.
5. F. MELI i in.: High precision, low force 3D touch probe for measurements on small objects. Proceedings of euspen Int. Topical Conference, Vol. 2, Aachen, 2003, s. 411 - 414.
6. F. MELI, A. KÜNG: Performance of a low force 3D touch probe on an ultraprecision CMM for small parts. Proceedings of euspen 4th Int. Conference on Precision Engineering and Nanotechnology, Glasgow 2004, s. 270 - 271.
7. E. RATAJCZYK: Współrzędnościowa technika pomiarowa. Oficyna Wydawnicza PW Warszawa, 2005.
8. E. BOS i in.: A calibration setup for a new type of nano probe, http://www.mate.tue.nl/
9. P. SWORNOWSKI: Wpływ oprogramowania na niepewność pomiaru we współrzędnościowej technice pomiarowej. Przegląd Mechaniczny 5/2006, s. 31 - 35.
10. M. MIGACZ: Współrzędnościowa maszyna pomiarowa F25 do pomiarów systemów mikrotechnologii. Mechanik 3/2006, s. 166 - 167.
11. http://www.mitutoyo.com/
12. http://www.ptb.de/
13. U. BRAND, T. KLEINE-BESTEN, H. SCHWENKE: Development of a special CMM for dimensional metrology on microsystem components. ASPE 15th Annual Meeting in Scottsdale, Arizona, USA, 2000, s. 1+5.
14. H. SCHWENKE i in.: Future challenges in co-ordinate metrology: addressing metrological problems for very small and very large parts. Physikalisch-Technische Bundesanstalt (PTB), Braunschweig, Germany, Internet: http://www.ptb.idw.2001/
15. Coordinate Measuring Machine Video Check IP400 from Werth Messtechnik GmbH, Giessen, Germany.
16. G. DAI i in.: A novel metrological scanning probe microscope with a measurement range up to (25 mm)2. AG 5.15 „Quantitative Rastersondenmikroskopie", (WG 5.15 „Quantitative scanning probe microscopy", Physikalisch-Technische Bundesanstalt, Braunschweig.
17. К.С. FAN i in.: Development of a low-cost micro-CMM for 3Dmicro/nano measurements. Meas. Sci. Technol., 17/2006, s. 524 - 532.
18. P. SWORNOWSKI: Zastosowanie lasera He-Ne we współrzędnościowej technice pomiarowej. Cz. I. Interferometr laserowy. Mechanik 8-9/2006, s. 662 - 669.

Typ dokumentu

Bibliografia

Identyfikator YADDA

bwmeta1.element.baztech-article-BOS4-0018-0039