PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Monitoring and automatic supervision in manufacturing.

Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Monitorowanie i automatyczny nadzór w wytwarzaniu.
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Monitoring and automatic supervision are nowadays the main tasks of research in machine tool control systems. Two of the research projects carried out recently in the Division of Machine Tools and Manufacturing Systems are described in the article. They concern the monitoring of the natural wear of cutting edges in turning and the thermal distortions of machine tools.
PL
Zadaniem, które jest obecnie stawiane przed sterowaniem i krok po kroku realizowane, jest monitorowanie oraz automatyczny nadzór wytwarzania (w celu zabezpieczenia przed awariami i przestojami oraz zabezpieczenia przed produkcją braków), a także optymalizacja na bieżąco procesów wytwórczych. Praca przedstawia badania w Zakładzie Obrabiarek i systemów Wytwarzania nad monitorowaniem naturalnego zużycia ostrza (optymalne wykorzystanie narzędzi skrawających) oraz odkształceniami cieplnymi obrabiarek (dokładność obróbki).
Rocznik
Strony
139--149
Opis fizyczny
Twórcy
  • Warsaw University of Technology, Institute of Manufacturing Technology, Narbutta 86, 02-524 Warsaw, Poland
  • Warsaw University of Technology, Institute of Manufacturing Technology, Narbutta 86, 02-524 Warsaw. Phone: (+48, 22) 849-93-90, Fax: (+48, 22) 849-02-85., m.szafarczyk@wip.pw.edu.pl
Bibliografia
  • [1] M. Szafarczyk, A. Winiarski: (Polish patent) Urządzenie do pomiaru zużycia narzędzia w obrabiarce. 1988.
  • [2] J. Chrzanowski, M. Szafarczyk, A. Winiarski, M. Winiarski (In Polish): Monitorowanie i korekcja zużycia wymiarowego noży tokarskich. Automation 2001. Mat. Konf. Nauk.-Techn. 2001, 421-427.
  • [3] M. Szafarczyk, A. Winiarski: (Polish patent) Sonda narzędziowa. 1999.
  • [4] M. Szafarczyk: (Polish patent) Metoda i urządzenia do pomiaru i monitorowania odkształceń termicznych. 1996.
  • [5] M. Szafarczyk, Ł. Ślązak: Monitoring of thermal distortions. APE'2001, Proc. II Int. Conf. Advances in Manufacturing Technology, Warsaw 2001, Part II, 383-392.
  • [6] M. Szafarczyk, Ł. Ślązak, P. Mąkosa: Direct and "intelligent" monitoring of thermal distortions. Proc. 6th Workshop on Intelligent Manufacturing Systems IMS 2001, 133-139.
  • [7] M. Szafarczyk: (Polish patent) Sposób pomiaru i monitorowania lokalnych odkształceń termicznych obiektów. 2001.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS4-0005-0021
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.