Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Nowe podejście do charakterystyki mikrostereometrii powierzchni na przykładzie toczenia poprzecznego.
Języki publikacji
Abstrakty
The article presents the use of SCGC method (The abbrev. SCGC means Symetrical Curve of Geometrical Contact. It is also called JKC (JK-Curve) after the computer programme for drawing it) invented in Poland, and the JKC computer programme to estimate measured surface microstereometry, mainly for industry quality. On the basis of turning surfaces the qualities of a new method are presented, namely: the vizualization which enables one to imagine the measured roughness area, location of the most important evaluation parameters (distribution of the geometric surface of contact, location of mean plane, double working areas estimation, the top area, quasi-nominal area), the volume of hollows and hills, and field value of developed surface. The article also introduces the changes of features of surface microstereometry area depending on the main parameters of turning process: feed, rounding tool point and cutting speed.
W pracy prezentuje się zastosowanie opracowanej w Polsce metody SCGC i odpowiedniego programu komputerowego JKC do oceny pomierzonej mikrostereometrii powierzchni, głównie na potrzeby kontroli jakości. Wykazuje sie na przykładzie powierzchni toczonych poprzecznie cechy nowej metody: wizualizację ułatwiającą wyobrażenie pomierzonej sfery chropowatości, położenie w niej najważniejszych parametrów oceny (rozkład geometrycznej powierzchni kontaktu, położenie płaszczyzny średniej, podwójne oszacowanie strefy roboczej, strefa wierzchołkowa i strefa quasi-nominalna, objętość wzniesień i wgłębień oraz wartości pola powierzchni rozwiniętej. Przedstawia sie zmiany cech sfery mikrostereometrii powierzchni w zależności od głównych parametrów procesu toczenia posuwu, zaokrąglenia wierzchołka ostrza i prędkości skrawania.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
55--70
Opis fizyczny
Twórcy
autor
autor
- The Basic Technology Problems Institute (PAN), Warszawa, ul. Świętokrzyska 21
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS4-0001-0021