PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Dobór parametrów pomiaru cyfrowego profili i jego następstwa w analizie amplitudowo-częstotliwościowej nierówności powierzchni

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
The importance of deliberate selection of the digital profile measurement parameters and its consequences for amplitude/frequency analysis of the surface finish features
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Analiza pomiaru cyfrowych nierówności profili jest złożonym problemem interdyscyplinarnym, którego parametry powinny uwzględniać ich charakter i cele postawione badanym nierównościom powierzchni. Poznawcze i badawcze analizy profili powinny być prowadzone funkcjami amplitudowo-częstotliwościowymi ich nierówności. Widma profili uwzględniają rozkład amplitud w częstotliwościowym ujęciu składowych powierzchni i zależą od przyjęcia parametrów pomiaru cyfrowego nierówności. Dlatego należy się liczyć z konsekwencjami pasmowych ujęć widmowych w zależności od przyjmowanych wartości parametrów pomiarowych, a jednocześnie dopasowanych do charakteru częstotliwościowego analizowanych powierzchni.
EN
Analysis of the profile digital irregularities is a complex interdisciplinary problem, to which the parameters adopted for should be related in the aspect of nature and design purpose of these irregularities. Cognitive and research analysis of the profiles should be carried out by means of amplitude/frequency functions of their specific irregularities. The profile spectra reflect amplitude distribution expressed in consideration of the frequency components of surface features and are relevant to the parameters adopted for digital measurement of the irregularities.
Czasopismo
Rocznik
Strony
696--700
Opis fizyczny
Bibliogr. 10 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
  • Wydział Mechaniczny, Katedra Technologii Maszyn i Automatyzacji Produkcji Politechniki Gdańskiej
Bibliografia
  • 1. A. BORYCZKO: Uwarunkowania i ograniczenia cyfrowego pomiaru nierówności profili powierzchni. Mechanik 12(2010) 957-962.
  • 2. A. BORYCZKO: Metoda analizy częstotliwościowej nierówności powierzchni toczonych w diagnozowaniu układu obróbkowego Monografie 42, Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej Gdańsk 2003.
  • 3. J.S. BEMDAT, A.G. PIERSOL: Metody analizy i pomiarów sygnałów losowych. Warszawa PWN 1976.
  • 4. A. BORYCZKO: Distribution of roughness and waviness components of turned surface profiles. Metrology and Measurement Systems. Vol. XVII (2010) No. 4, 611-620.
  • 5. J. RAJA, B. MURALIKRISHNAN, F. SHENGYU: Recent advances in separation of roughness, waviness and form. Precision Engineering, vol. 26(2002), 222-235.
  • 6. PN-ISO 4288:1997 Wymagania geometryczne wyrobów. Struktura geometryczna powierzchni. Zasady i procedury oceny struktury geometrycznej powierzchni, metoda profilowa.
  • 7. A. BORYCZKO: Podstawy pomiarów wielkości mechanicznych Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej Gdańsk 2010.
  • 8. K.S. MOON, J.W. SUTHERLAND: The Origin and Interpretation of Spatial Frequencies in a Turned Surface Profile J. of Eng. for industry, vol. 116(1994}, 340-347.
  • 9. X. CHEN, J. RAJA, S. SIMANAPALLI: Multi-Scale Analysis of Engineering Surfaces. Int. J. Mach. Tools Manufact., vol. 35, No 2(1995), 231-238.
  • 10 M. BIGERELLE, A. GAUTIER, В. HAGEGE, J. FAVERGEON, B. BOUNICHANE: Roughness characteristic length scales of belt finished surface. Journal of Materials Processing Technology, 209 (2009), 6103-6116.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS3-0024-0059
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.