Badanie stopnia zdefektowania struktury szkieł tellurowych metodą pomiarów czasów życia pozytonów

• Autorzy: Filipecki J. , Golis E. , Reben M. , Wasylak J.

Warianty tytułu

EN

Investigation of the structure of the tellurite glasses by means of positron lifetime measurements

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Spektroskopię czasów życia pozytonów PALS wykorzystano do określenia zmian stopnia zdefektowania struktury szkieł tellurowych domieszkowanych jonami lantanu. W wyniku przeprowadzonych badań, na podstawie uzyskanych widm czasów życia pozytonów obliczono wartości dwóch składowych tau i ich natężeń. Przeprowadzona analiza wskazuje, że uzyskane składowe czasów życia pozytonów odpowiadają w przypadku tau 1, za anihilację z elektronami swobodnymi oraz anihilację w zdefektowanej strukturze typu wakans. Druga składowa tau 2 związana jest z występowaniem defektów objętościowych powstałych na granicy ziaren lub dyslokacji występujących w badanych szkłach. Na podstawie przeprowadzonych badań stwierdzono, że w procentowym udziale natężeń poszczególnych składowych czasów życia pozytonów tau, zdecydowanie przeważają anihilacje swobodne i defekty atomowe typu wakans.

EN

Positron lifetime spectroscopy PALS has been applied of the investigation of the structure of tellurite glasses lanthanum ions doped. As a results of the research of positron lifetimes two components tau and its intensities were obtained. The analysis shows that obtained lifetime components tau 1 are responsible for the occurrence of free positrons annihilation with electrons, on the other hand the intermediate lifetime tau 2 is due to positron trapping modes. The percentage of intensities of individual components of positron lifetime shows that strongly dominated by free positrons annihilation and vacancy-type defects.

Słowa kluczowe

PL

szkła tellurowe; anihilacja pozytonów; defekty typu wakans; czas życia

EN

tellurite glasses; positron annihilation; vacancy-type defects; lifetime

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz - Instytut Ceramiki i Materiałów Budowlanych
• Czasopismo: Szkło i Ceramika
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 62, nr 2
• Strony: 9--12
• Opis fizyczny: Bibliogr. 12 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Filipecki J.

autor

Golis E.

autor

Reben M.

autor

Wasylak J.

• Instytut Fizyki, Akademia im. Jana Długosza w Częstochowie,

Bibliografia

• [1] Krause-Rehberg R., Leipner H.S.: Positron Annihilation in Semiconductors, Defect Studies, Springer-Verlag Berlin Heidelberg 1999.
• [2] Dryzek J.: Wstęp do spektroskopii anihilacji pozytonów w ciele stałym, Wyd. Uniw. Jagiellońskiego, Kraków 1997.
• [3] Shpotyuk O., Filipecki J.: Free volume in vitreous chalcogenide semiconductors: possibilities of positron lifetime study, Wydawnictwo Naukowe WSP, Częstochowa 2003 (str. 114).
• [4] Kansy J.: Microcomputer program for analysis of positron annihilation lifetime spectra, Nucl. Instr. Meth. Phys. Res. A, 364, 235 (1996).
• [5] Schwartz H.A.: J.Phys.Chem., 73, 1928 (1969).
• [6] Stepanov S.V., Byakov V.M.: J.Chem. Phys., 116, 14 (2002).
• [7] J.Kansy, T.Suzuki, T.Ogawa, Radiat. Phys. And Chem., 58, 545 (2000).
• [8] Langhammer H.T., Müller T., Polity A., Felgner K., Abicht H.: Matter. Lett., 26, 205 (1996).
• [9] Zhi Y., Chen A., Massoud A.M., Langhammer H.T.: Rad. Phys. Chem., 68, 549 (2003).
• [10] Filipecki J., Shpotyuk O., Ingram A., Kozdras A.,Shpotyuk L., Hyla M.: J. Phys. Chem. Sol., 68, 998 (2007).
• [11] Nambissan P.M.G., Upadhyah C., Verna H.C.: J. Appl. Phys., 93, 6320 (2003).
• [12] Reben M., Golis E.P., Wasylak J.: Ceramika/Ceramics, 103, 1305 (2008).