PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Roentgenography method implementation at intrinsic residual stress measurement in surface layer of drawing die eyelets.

Identyfikatory
Warianty tytułu
PL
Metoda rentgenowska w badaniach naprężeń własnych w warstwie wierzchniej oczek ciągadeł.
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Object of research was intrinsic residual stress determination in surface layer of drawing die eyelet. Considering Euclid surface specifity it was elaborated new method of measurements. Research measurement data analysis allowed conclude some new wear mechanism ideas. Determination of first type stress value in surface layer of wire - drawing eyelets is based on X-ray radiology principle theory. It was working out new method of the intrinsic stress determination with taking account of the specific surface tool geometry. Acquired research results were processed by comparative analysis. Measurement results of the respective series of investigated tools (eyelets) were compared to each other and later were under confrontation with other research results of the surface layer of wire - drawing eyelets.
PL
Wyznaczenie naprężeń pierwszego rodzaju w warstwie wierzchniej oczek ciągadeł oparto na teoretycznych podstawach metody rentgenowskiej. Z uwagi na geometrię badanych powierzchni opracowano nową metodę określania naprężeń własnych. Uzyskane wyniki badań poddano analizie porównawczej. Porównań dokonano między wynikami poszczególnych serii badanych narzędzi oraz skonfrontowano je z wynikami innych badań warstwy wierzchniej oczek ciągadeł.
Rocznik
Strony
19--28
Opis fizyczny
Twórcy
autor
autor
autor
  • AGH-University of Technology, al. Mickiewicza 30, 30-054 Kraków
Bibliografia
  • [1] Cullity B.D.: Podstawy dyfrakcji promieni rentgenowskich. PWN, Warszawa 1964.
  • [2] Daca J.: Praca doktorska AGH, Kraków 1976.
  • [3] Keisuke Tanaka, Shotaro Kodama, Toru Goto (eds.): X-ray diffraction studies on the deformation and fracture of solids., Elsevier Applied Science, London; New York 1993.
  • [4] Robert M. Hazen, Robert T. Downs (eds.): High-temperature and high-pressure crystal chemistry; Mineralogical Society of America, Washington 2000.
  • [5] J. Gomes Ferreira and M. Teresa Ramos (eds.): X-ray spectroscopy in atomic and solid state physics /: Plenum Press: NATO Scientific Affairs Division, New York; London 1988.
  • [6] Predecki P., Abubasan A. Barret C.S.: Advantage X-Ray Analysis, 31, 1988, 231-243.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS3-0010-0031
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.