Identyfikacja faz metodą EBSD - problemy preparatyki

• Autorzy: Klimek L. , Jakubowski K.

Warianty tytułu

EN

Identification of phases with EBSD method - problem of samples preparation

• Konferencja: II Krajowa Konferencja "Nowe materiały - nowe technologie w przemyśle okrętowym i maszynowym", Międzyzdroje 7-10 września 2003
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Identyfikacja faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych ma potencjalnie szerokie zastosowanie w inżynierii materiałowej. Mimo, że jest to metoda stosunkowo prosta to jednak otrzymywane linie dyfrakcyjne nie zawsze są prawidłowo detektowane przez komputer. Przyczyny tego tkwią najczęściej w preparatyce próbek. W pracy przedstawiono wpływ sposobu w jaki zostały przygotowane zgłady metalograficzne wybranych materiałów na jakość otrzymywanych obrazów dyfrakcyjnych, a tym samym na możliwości identyfikacji obserwowanych faz. Przeprowadzone badania wykazały, że sposób przygotowania zgładów metalograficznych w bardzo dużym stopniu wpływa na identyfikację faz. Przy czym trudno jest ustalić uniwersalną preparatykę dla wszystkich materiałów.

EN

Electron back scattered diffraction method of phases identification potentially has broad application in the materials science. Despite the fact that this method is relatively simple, obtained diffraction lines are not always correctly identified by a computer. Purposes of this are - in most cases - because of the samples preparation. The influence of the metallographic specimens preparation method of chosen materials on the quality of EBSP and on the possibility of phases identification has been presented in this work. During the research it was shown that the method of metallographic specimens preparation influences significantly the phases identification. In the mean time is very difficult to state the universal method of preparation for all the materials.

Słowa kluczowe

PL

identyfikacja; faza; metoda EBSD; preparatyka; dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych; zgłady metalograficzne; jakość; obraz dyfrakcyjny

EN

identification; phase; EBSD method; samples preparation; electron back scattered diffraction method; metallographic specimens; quality

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Inżynieria Materiałowa
• Rocznik: 2003
• Tom: R. XXIV, nr 6
• Strony: 318--321
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Klimek L.

• Politechnika Łódzka, Instytut Inżynierii Materiałowej

autor

Jakubowski K.

• Politechnika Łódzka, Instytut Inżynierii Materiałowej

Bibliografia

• 1. Klimek L., Kula P., Jakubowski K.: „Metodyczne aspekty identyfikacji faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych" Polska Metalurgia w latach 1998 - 2002 Komitet Metalurgii Polskiej Akademii Nauk Wydawnictwo Naukowe „AKAPIT" Kraków 2002 T. 2 s. 418 - 424.
• 2. Klimek L.: "Wybrane aspekty zastosowania identyfikacji faz metodą dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych w inżynierii powierzchni na przykładzie warstw azotonasiarczanych" Inżynieria Materiałowa nr 5 wrzesień - październik 2002 s. 658 - 661.
• 3. Materiały firmy Thermo Noran,
• 4. Russ J. C, Bright D. S., Hare T. M.: "Aplication of the Hough transform to electron diffraction pattems in the SEM" Jouranal of Computer - Assisted Microscopy, 1989,1-3,
• 5. Schwartz A. J., Kumar M., Adams B. L.: „Electron Backscatter Diffraction in Materials Science" Kluwer Academic / Plenum Publishers New York, Boston, Dordrecht, London, Moscow 2000 r.