Powiadomienia systemowe
- Sesja wygasła!
- Sesja wygasła!
Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Model przewodzenia ciepła przez granicę nieizostrukturalnych pokryć wielowarstwowych.
Konferencja
XVIth Physical Metallurgy and Materials Science Conference on Advanced Materials and Technologies AMT'2001, Gdańsk-Jurata, 16-20 September, 2001
Języki publikacji
Abstrakty
W pracy przedstawiono model przewodzenia ciepła granic międzywarstwowych nieizostrukturalnych powłok wielowarstwowych. Model ten stanowi istotną część modelu przewodzenia ciepła powłok wielowarstwowych, który zostanie zaprezentowany w osobnej publikacji. Model opiera się na założeniu, że głównym czynnikiem wpływającym na wartość współczynnika przewodzenia ciepła, jest rozpraszanie fononów i elektronów na brzegach obszaru granicy. Z uwagi na znaczne grubości granic międzywarstwowych przyjęto, że granica międzywarstwowa stanowi strefę o odmiennych od podpowłok właściwościach fizycznych. W pracy przedstawiono przykład wpływu budowy strukturalnej na wartość współczynnika przewodzenia ciepła granic międzywarstwowych powłok typu TiN/Ti oraz V/Ti.
In the paper the heat conductivity model of interlayer boundaries of non-isostructural multilayer coatings has been described. This model is an essential part of heat conductivity model of multilayer coatings which will be presented in the separate publication. The model is based on the assumption that the main factor influencing the heat conductivity coefficient is fonons and electrons dispersion on the boundary edges. Considering substantial boundaries thickness the assumption that the boundary is a zone with different physical properties from sublayers was made. In this work the example of the influence of the structure on the heat conductivity coefficient of TiN/Ti and V/Ti coatings interlayer boundaries has been shown.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
508--510
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., tab., rys.
Twórcy
autor
- Technical University of Lodź, Poland
autor
- Technical University of Lodź, Poland
- Technical University of Lodź, Poland
Bibliografia
- [1] Chen G., Hui Ping, Thermal conductivites of evaporated gold films on silicon and glass, Applied Physics Letter, 74(20), 1999, 2942-2944.
- [2] Wu Z.L., Kuo P.K., Wei L., Thomas Gu., Thomas R.L., Photothermal characterization of optical thin films, Thin Solid Films, 236, 1993, 191-198.
- [3] Holleck H., Schier V., Multilayer PVD coatings for wear protection. Surface and Coatings Technology, 76-77,1995, 328-336.
- [4] Madan A., Yashar P., Shinn M., Barnett S.A., An X-ray diffraction study of epitaxial TiN/NbN superlattices, Thin Solid Films, 302,1997,147-154.
- [5] Zalar A., Hofmann S., Pimentel F., Panjan P., Interfacial reactions in dynamically heated Si/Me/Si sandwich layers, Thin Solid Films, 253, 1994,293-298.
- [6] Siniarski D., Przewodnictwo cieplne powłok wielowarstwowych, PhD Thesis, Technical University of Lodz, 2000.
- [7] Kula P., Siniarski D., Model przewodnictwa cieplnego powłok wielowarstwowych, Materiały konferencyjne, 11th International Summer School Mielno’99 – Modern Plasma Surface Technology, Mielno May 1999.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS3-0004-0011