Możliwości metrologiczne profilometrów i kształtografów IOS.

• Autorzy: Miller T.

Warianty tytułu

EN

Metrological possibilities od profile measurement gauges and shape analysers from Institute of Metal Cutting (IOS).

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono podstawowe dane techniczne przyrządów do pomiaru chropowatości i kształtu powierzchni oraz zakresy analizy danych wykonywanych za pomocą programów PROFIL i KSZTAŁT, dołączonych do profilografometru PGM-IC i kształtografu PG-2/200. Omówiono także możliwości pomiarowe przenośnego profilometru PM-02C.

EN

Basic technical data of instruments for measuring roughness and shape of a surface. Scopes of analyses of data performed by means of programs PROFIL and KSZTAŁT connected to the profile measurement gauge PGM-IC and the shape analyser PG-2/200. Measurement possibilities of a mobile profile measurement gauge PM-02C.

Słowa kluczowe

PL

profilometr; kształtograf; pomiar chropowatości powierchni; pomiar kształtu powierzchni

EN

profile measurement gauges; shape analyser; measuring roughness of a surface; measuring shape of a surface

• Wydawca: Stowarzyszenie Inżynierów i Techników Mechaników Polskich
• Czasopismo: Mechanik
• Rocznik: 1999
• Tom: R. 72, nr 5-6
• Strony: 395--397

Twórcy

autor

Miller T.

• Instytut Obróbki Skrawaniem, ul. Wrocławska 37a, 30-011 Kraków, tel [phone],