Tytuł artykułu
Identyfikatory
Warianty tytułu
Otrzymywanie i ferroelektryczne właściwości cienkich warstw LiNbO3 i BaTiO3
Języki publikacji
Abstrakty
Technological conditions of the BaTiO3 and LiNbO3 thin film preparation by r.f. sputtering are presented. It was found that the thin films obtained were characterized by the polycrystalline structure. However, the type of texture as well as the degree of teksture of the formed thin films depended on the technological conditions of the thin film preparation. It was also determined that both BaTiO3 and LiNbO3 thin films showed ferroelectric properties similar to the ones of bulk ferroelectrics. Some peculiarities of the prepared thin films were observed, namely diffused phase transition and the state of intrinsic unpolarity (self-contained polarization).
Przedstawiono warunki otrzymywania cienkich warstw LiNbO3 i BaTiO3 metodą rozpylania w polu w.cz. Otrzymane cienkie warstwy wykazywały strukturę polikrystaliczną . Stopień i rodzaj tekstury takich cienkich warstw zależy od warunków ich otrzymywania. Stwierdzono, że cienkie warstwy BaTiO3 i LiNbO3 charakteryzują się właściwościami ferroelektrycznymi zbliżonymi do właściwości typowych dla ferroelektryków masywnych. Osobliwością otrzymywanych cienkich warstw jest rozmycie przemiany fazowej i obecność wewnętrznej unipolarności (samoistnej polaryzacji).
Słowa kluczowe
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
5--19
Opis fizyczny
Bibliogr. 16 poz., rys., tab.
Twórcy
autor
- Silesian University, Department of Materials Science, ul. Śnieżna 2, 41-200 Sosnowiec, Poland
autor
- Silesian University, Department of Materials Science, ul. Śnieżna 2, 41-200 Sosnowiec, Poland
autor
- Rostov State University, Faculty of Physics 5 Zorge St. 344-104 Rostov-on-Don, Russian Federation
autor
- Rostov State University, Faculty of Physics 5 Zorge St. 344-104 Rostov-on-Don, Russian Federation
Bibliografia
- [1] Z. Surowiak, The influence of technological conditions on the structure and physical properties of ferroelectric films. Silesian University, Katowice (Poland) 1990, p. 175.
- [2] V. P. Dudkevich , E. G. Fesenko, Fizika segnetoelektricheskikh plenok, RGU, Rostov-on-Don 1979, p. 101.
- [3] Yu. Ya. Tomashpolski, G. L. Platonov, Segnetoelektricheskie pienki slozhnykh okislov metallov. Mettalurgiya, Moskva 1978, p. 140.
- [4] Z. Surowiak, D. Czekaj, V. P. Dudkevich, A. A. Bakirov, Akustyka Molekularna i Kwantowa, 15, 175 (1994).
- [5] M. E. Lines, A. M. Glass: Principles and applications of ferroelectrics and related materials. Clarendon Press, Oxford 1977, p. 582.
- [6] Y. Xu, Ferroelectric materials and their applications, North-Holland, New York 1991, p. 206.
- [7] G. Yi, Z. Wu, M. Sayer, J. Appl. Phys, 64, 2717 (1988).
- [8] S. L. Swart z, D. A. Seifert, G. T. Noel, T. R. Shront, Ferroelectrics, 93, 37 (1989).
- [9] Z. Surowiak, M. Łoposzko, I. N. Zakharchenko, A. A. Bakirov, E. A. Marchenko, E. V. Sviridov, V. M. Mukhortov, V. P. Dudkevich, Thin Solid Films,205, 76 (1991).
- [10] Z. Surowiak, Y. S. Nikitin, S. V. Biryukov, I.I. Golovko, V. M. Mukhortov, V. P. Dudkevich, Thin Solid Films, 208, 76 (1992).
- [11] Z. Surowiak, V. P. Dudkevich, Archiwum nauki o materiałach, 13, 3, 167 (1992).
- [12] Z. Surowiak, A. M. Margolin, I. N. Zakharchenko, S. V. Biryukov, Thin Solid Films, 176, 227 (1989).
- [13] Z. Surowiak, V. M. Mukhortov, V. P. Dudkevich, Ferroelectrics, 139, l (1993).
- [14] J. Ziaja, X-ray diffraction methods of determining the real structure parameters of a polycrystalline material. Politechnika Wrocławska, Wrocław 1975, p. 28.
- [15] V. E. Yurkevich, Fizika fazovych perekhodov v segnetoaktivnykh tverdykh raztvorakh. RGU, Rostov-on-Don 1983, p. 49.
- [16] Z. Surowiak, A. M. Margolin, S. V. Biryukov, I. N. Zakharchenko, Inżynieria Materiałowa, 4, 87 (1988).
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS1-0010-0047