Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
Diffusion Scattering and Rietveld Refinement in studying on nanocrystalline materials.
Języki publikacji
Abstrakty
Niniejsza praca ma charakter metodyczny i jej podstawowym celem jest opracowanie procedury pozwalającej na wspólne wykorzystanie metody RDF i metody Rietvelda do opisu modelu budowy materiałów nanokrystalicznych wykazujących rentgenowski obraz dyfrakcyjny, tak jak materiały amorficzne, oraz określenie warunków stosowalności połączenia tych metod. Opierając się na analizie dyfuzyjnego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego, na przykładzie nanokrystalicznych stopów Cu-Cd wykreślono funkcje RDF, z których wyznaczono wartości promieni i liczb koordynacyjnych, a także przybliżony model struktury. Korzystając z tych danych zastosowano procedurę Rietvelda, w której zmieniając takie wielkości jak: współczynniki dopasowania tła, funkcje opisujące kształt i szerokość połówkową linii dyfrakcyjnej, parametry komórki elementarnej, współrzędne położenia atomów, parametry obsadzeniowe (POP) i temperaturowe, wykreślano dyfraktogram teoretyczny i porównywano go z eksperymentalnym aż do otrzymania najlepszego dopasowania, tj. do uzyskania najmniejszych wartości czynników R. Uzyskane ostatecznie parametry budowy badanych materiałów posłużyły do wyrysowania modeli hipotetycznych "komórek elementarnych" badanych stopów. W pracy wykazano, że taki sposób postępowania dla materiałów nanokrystalicznych jest możliwy i prowadzi do określenia najbardziej prawdopodobnego modelu ich budowy. Z tego względu w podsumowaniu podano kolejne etapy realizacji zaproponowanej procedury.
The aim of this paper was to prepare the procedure connecting the Radial Distribution Function Method and The Rietveld Refinement Method to study the nanocrystalline structure model. The conditions for applying these two methods were also studied. On the basis of the Radial Distribution Function obtained for nanocrystalline Cu-Cd alloys, the coordination numbers and radii of coordination spheres were determined. These results led to the first approximation of the model structure. Then the Rietveld Refinement Method was used to obtain the more likely model structure. The background, shape and FHWM of the diffraction line, parameters of unit cell x, y, z-parameters and POP parameters were refined during the whole procedure. The final results of Rietveld Refinement were used as the base for drawing the structure model of the hypothetical "unit cell". It was shown that the procedure described in this paper may be applied for selecting the most probable model structure of nanocrystalline materials.
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
207--239
Opis fizyczny
Twórcy
Bibliografia
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS1-0010-0030
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.