Zastosowanie stereoskopowej analizy obrazu do określenia stopnia rozwinięcia powierzchni powłok natryskiwanych plazmowo.

• Autorzy: Bochenek A. , Przerada I.

Warianty tytułu

EN

Application of stereoscopic image analysis for determination of the degree of surface area development of plasma sprayed layers.

• Konferencja: IV Ogólnopolska Konferencja Naukowa 'Obróbka powierzchniowa', 5-8 października 1999 r., Kule k/Częstochowy
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono technikę opisu cech geometrycznych powierzchni, polegającą na złożeniu dwu stereoskopowych obrazów dającym w efekcie jej przestrzenną rekonstrukcję. Wirtualne cięcia tej powierzchni pozwalają na uzyskanie dowolnego profilu powierzchni, który jest podstawowym obiektem badań klasycznej profilometrii. Zaoszczędza to czas i zmniejsza koszty, co w przypadku twardych warstw natryskiwanych plazmowo czyni metodę bardzo konkurencyjną w stosunku do metod klasycznych. Otrzymane w analizie stereoskopowej pliki zawierające informacje o położeniu każdego piksela na linii profilowej poddano analizie fraktalnej przy pomocy dwu różnych narzędzi. Dodatkowo w celach porównawczych wykonano klasyczną analizę chropowatości przyrządem Talysurf_2.

EN

Stereo Imaging concept to 3D reconstruction of plasma sprayed surface has been presented. Virtual cross cutting of surface was provided to obtain profiles which are a basic object of roughness analysis. Presented method is less time consuming and more cost effective compared to classical methods. It provides a big advantage for hard coating surfaces. Output text files which contain X, Y, Z positions of all profile pixels was used to determine fractal dimension D of coating surfaces. Also clasical method of roughness determination with Talysurf - 2 unit has been used to compare these results with results of the newly presented method.

Słowa kluczowe

PL

stereoskopowa analiza obrazu; powłoki natryskiwane plazmowo; profilometria; wymiar fraktalny; metoda fraktalna; stopień rozwinięcia powierzchni; cechy geometryczne

EN

stereoscopic image analysis; plasma sprayed layers; roughness analysis; fractal dimension; fractal method; degree of development surface area; geometrical features

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Inżynieria Materiałowa
• Rocznik: 1999
• Tom: R. XX, nr 5
• Strony: 461--463
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz., tab., rys.

Twórcy

autor

Bochenek A.

• Instytut Inżynierii Materiałowej, Politechnika Częstochowska

autor

Przerada I.

• Instytut Inżynierii Materiałowej, Politechnika Częstochowska

• Politechnika Częstochowska, Instytut Inżynierii Materiałowej

Bibliografia

• [1] Proverbio E. i inni: Evaluation of Plasma-Sprayed Coating Quality by SEM and Image Analysis. European Microscopy and Analysis, July 1997 s.17-l 9,
• [2] Ammann J. i inni: Tree-Dimensional Reconstruction of Fracture Surfaces. Materials characterization 36:379-386 ( 1996),
• [3] Guide Book Series "Stereo Imaging" firmy Oxford lnstruments,
• [4] The Form Talysurf Seri es 2. Operator Handbook 1997,
• [5] Liebovitz L.S., T. Toth: A fast algoritm to determine fractal dimension by box counting. Physics Letter A. Vol. 141. No. 8,9. 1989 s. 386-390,
• [6] Bochenek A., Przerada I.: Zastosowanie analizatora obrazu do profilometrycznej analizy rozwinięcia powierzchni przełomu. Archiwum Nauki o Materiałach t.15 nr 3/4 1994 s.227- 244.