Zastosowanie dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów do wyznaczania grup punktowych i grup przestrzennych kryształów

• Autorzy: Gigla M. , Szędzielorz A. , Morawiec H.

Warianty tytułu

EN

Application of CBED for determination of point and space groups of crystals

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Stosując technikę dyfrakcji zbieżnej wiązki elektronów (CBED), zamiast ostrych plamek dyfrakcyjnych otrzymuje się dyski dyfrakcyjne. Analiza wewnętrznej symetrii tych dysków pozwala jednoznacznie wyznaczyć grupę punktową nieznanej fazy krystalicznej. Ponadto analiza tzw. linii GM, będących efektem dynamicznego oddziaływania wielu wiązek elektronów, umożliwia wyznaczenie grupy przestrzennej. Celem prezentowanej pracy było przeprowadzenie pełnej procedury wyznaczania grup punktowych i przestrzennych na podstawie obrazów CBED w przypadku próbek metalicznych (Al oraz Zn), które w związku z dużą plastycznością charakteryzuje zwykle stosunkowo duży stopień zdefektowania. Zgodnie bowiem z danymi literaturowymi, skoncentrowanymi głównie na materiałach o małej plastyczności, zdefektowanie próbek zaburza obraz wewnątrz dysków dyfrakcyjnych.

EN

The convergent beam electron diffraction (CBED) gives diffraction discs instead of sharp diffraction spots. Analysis of an internal symmetry of these discs makes the determination of the point group of an unknown crystal phase possible. Moreover, due to the analysis of the co-called GM-lines, resulting from the dynamical interaction of many electron beams the determination of the space group is also feasible. The aim of this work was to carry out the full procedure necessary to determine the point and space groups from CBED patterns obtained for metallic samples (Al and Zn) containing a considerable number of defects. Up till now literature data have focused mainly on materials with low plasticity since defects can destroy the pattern inside diffraction discs.

Słowa kluczowe

PL

dyfrakcja zbieżnej wiązki elektronów; grupa punktowa; grupa przestrzenna; kryształ; linie GM; defekt

EN

convergent beam electron; diffraction technique; CBED; point groups; space groups; crystal; SM lines; defect

• Wydawca: Wydawnictwo Uniwersytetu Śląskiego
• Czasopismo: Archiwum Nauki o Materiałach
• Rocznik: 1999
• Tom: T. 20, nr 1
• Strony: 39--57
• Opis fizyczny: Bibliogr. 11 poz., rys., tab.

Twórcy

autor

Gigla M.

• Instytut Fizyki i Chemii Metali, Uniwersytet Śląski, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

autor

Szędzielorz A.

• Instytut Fizyki i Chemii Metali, Uniwersytet Śląski, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

autor

Morawiec H.

• Instytut Fizyki i Chemii Metali, Uniwersytet Śląski, ul. Bankowa 12, 40-007 Katowice

Bibliografia

• [1] M. Tanaka, M. Terauchi, Convergent - Beam Electron Diffraction, JEOL - Maruzen, Tokyo 1985.
• [2] M. Tanaka M. Terauchi, T. Kaneyama, Convergent - Beam Electron Diffraction II, JEOL - Maruzen, Tokyo 1988.
• [3] M. Tanaka, M. Terauchi, K. Tsuda, Convergent - Beam Electron Diffraction III, JEOL - Maruzen, Tokyo 1994.
• [4] D. B. Williams, C. B. Carter, Transmission Electron Microscopy - II Diffraction, Plenum Press, New York 1996.
• [5] D. L. Dorset, S. Hovmöller, X. Zou, Electron Crystallography, Kluwer Academic Publishers, Dordrecht-Boston-London 1997.
• [6] B. F. Buxton, J. A. Eades, J. W. Steeds, G. M. Rackham, Phil. Trans. R. Soc.,London, 281, 171, (1976).
• [7] V. Randle, I. Barker, B. Ralph, J. Electron Microsc. Tech., 13, 51 (1989).
• [8] E. Carlino, Arch. of Metallurgy, 40, 45 (1995).
• [8] J. Gjønnes, A. F. Modie, Acta Cryst, 19, 65 (1965).
• [10] J. C. H. Spence, J. M. Zuo, Electron Microdiffraction, Plenum Press, New York 1992.
• [11] J. A. Eades, Convergent-beam diffraction, W: Electron Diffraction Techniques, ed. J. M. Cowley, vol. 1, International Union of Crystallography, Oxford University Press 1992.