PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Powiadomienia systemowe
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
  • Sesja wygasła!
Tytuł artykułu

Microtexture and microstructure investigations by orientation imaging microscopy.

Identyfikatory
Warianty tytułu
Konferencja
XVth Physical Metallurgy and Materials Science Conference on Advanced Materials & Technologies AMT'98, 17-21 May 1998, Kraków-Krynica, Poland
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
The OIM technique is presented and examples of OIMs from recrystallized and cold deformed aluminium are given. It was found that the grain structures of the recrystallized samples are well resolved by the OIMs. Grain subdivision on different length scales during deformation is also clearly visible. The development in orientational grain subdivision is followed as a function of strain up to Epsilon=0.8 and the results are presented both by OIM pictures, average misorientations and misorientation distributions. Finally the potentials of the OIM technique are discussed.
Rocznik
Strony
455--458
Opis fizyczny
Bibliogr. 7 poz., rys.
Twórcy
autor
  • University of Mining and Metallurgy, Kraków
autor
  • Materials Research Department – Risø National Laboratory-Roskilde – Denmark
autor
  • Materials Research Department – Risø National Laboratory-Roskilde – Denmark
  • University of Mining and Metallurgy, Kraków
Bibliografia
  • [1] V. Randle – Microtexture Determination and its Applications –The Inst. Of Mat., (1992).
  • [2] B.L.Adams, S. I. Wright, K. Kunze – Matal. Trans. A., 24 (1993) 819.
  • [3] N. C. Krieger Lassen, D. Juul Jensen, K. Conradsen – Scan. Microscopy, 6 (1992), 115.
  • [4] A. Bunsch, D Juul Jensen – IX Conf. on Elect. Micr.of Solids – Zakopane, (1996), 195.
  • [5] A. Bunsch-Rise Report No. I-955(EN), 1995 – Roskilde – Denmark.
  • [6] B. Bay, N. Hansen, D. Kuhlman-Wilsdorf – Mat. Science end Eng. A15801992. 139.
  • [7] Q.Liu, N. Hansen – Scrip. Metal. et Mater, 32 (1995) 1289.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BOS1-0005-0051
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.