Goniometryczny pomiar funkcji BRDF dla powierzchni stałych

• Autorzy: Jaglarz J. , Duraj R.

Warianty tytułu

EN

Goniometric determination of BRDF for solid surfaces

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Artykuł opisuje stanowisko pomiarowe w Instytucie Fizyki PK umożliwiające wyznaczenie dwukierunkowej funkcji rozkładu odbicia (BRDF) światła monochromatycznego rozpraszanego od powierzchni ciał stałych. Celem ilustracji metody przeanalizowano wyniki uzyskane dla kilku wybranych próbek.

EN

This paper describes a measuring device which has been used at Institute of Physics of Cracow University of Technology to determine BRDF for monochromatic light reflection on solid surfaces. To illustrate this method's applications, we analyze the results for a few selected samples.

Słowa kluczowe

PL

BRDF; chropowatość powierzchni; odbicie światła

EN

BRDF; light scattering; surface roughness

• Wydawca: Wydawnictwo Politechniki Krakowskiej im. Tadeusza Kościuszki
• Czasopismo: Czasopismo Techniczne. Nauki Podstawowe
• Rocznik: 2011
• Tom: R. 108, z. 1-NP
• Strony: 85--94
• Opis fizyczny: Bibliogr. 10 poz.,Rys., wz., wykr.,

Twórcy

autor

Jaglarz J.

autor

Duraj R.

• Instytut Fizyki, Matematyki i Informatyki, Politechnika Krakowska

Bibliografia

• [1] Workmann J.A., Springsteen Applied Spectroscopy, Academic Press, 194, 1998.
• [2] Becker M E., Evaluation and characterization of display reflectance, Displays, 19, 1998.
• [3] Nicodemus F.E., Reflectance nomenclature and directional reflectance and emissivity, Applied Optics, Vol. 9(6), 1970,1474.
• [4] Jaglarz J., Metody optyczne w badaniach powierzchni i powłok rzeczywistych, Wydawnictwo Politechniki Krakowskiej, seria Podstawowe Nauki Techniczne, Kraków 2007, 33-58.
• [5] Beckmann P., Spizinochino B., The Scatering of Electromagnetics Waves from Rough surfaces, Pergamon Press, Oxford–London–New York–Paris 1963.
• [6] Bennet J.M, Mattson L., Introduction to surface roughness and scattering, Optical Society of America Washington DC.
• [7] Stover J.C., ed., Optical Scattering: Applications, Measurement and Theory II, Proc. SPIE 1995 (1993).
• [8] Jaglarz J., Topography descriptions of thin film by optical Fourier transform, Thin Solid Films, 516, 2008, 8077.
• [9] Zięba Ł., Jaglarz J., Dąbrowski M., Duraj R., Cisowski J., Jurusik J., Surface investigations of TiN layers on different substrates, Reviews on Advanced Materials Science 15, 2007, 63.
• [10] Jaglarz J., Duraj R., Szopa P., Cisowski J., Czternastek H., Investigations of white standards by means of bidirectional reflection distribution function – and integrating sphere methods, Optica Aplicata, 36, 1, 2006.