Tytuł artykułu
Autorzy
Identyfikatory
Warianty tytułu
The method of accelerated testing applied to reliability assessment of electronic circuits intended to be used for functional safety purpose [Tyt.równol.]
Języki publikacji
Abstrakty
Omówiono metody oceny niezawodności oparte na zliczaniu defektów występujących podczas pracy w warunkach zwiększonego obciążenia. Przedstawiono modele statystyczne stosowane do analizy intensywności uszkodzeń. Pokazane zostały metody obliczeniowe mające zastosowanie do badań niezawodności w celu wyznaczania poziomu nienaruszalności bezpieczeństwa SIL.
The methods of reliability assessment based on the counting of failures during increased stress working conditions are presented. The statistical model applied to failure rate analysis are described. calculation methods used for safety Integrity Level determination are shown.
Wydawca
Czasopismo
Rocznik
Tom
Strony
101--105
Opis fizyczny
Bibliogr. 3 poz.,Rys., tab., wykr., wz
Twórcy
autor
- Urząd Dozoru Technicznego, ul. Szczęśliwicka 34, 02-353 Warszawa, janusz-samula@udt.gov.pl
Bibliografia
- 1. Hnatek E.R., Practical Reliability of Electronic Equipment and Products (2003).
- 2. Introduction to Quantitative Accelerated Life Testing Analysis by ReliaSoft (2005).
- 3. Jedec Standard - Early Life Failure Rate Calculation Procedure for Electronic Components.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BGPK-2382-9244