PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Właściwości fizykochemiczne cienkich filmów TiO2 i ich aktywność w reakcji fotoutleniania oktanu w fazie gazowej

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Physicochemical properties of TiO2 thin films and their activity in photooxidation of octane in its gaseous phase
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Otrzymano dwie serie filmów TiO[2], osadzonych na szkle Pyrex i kalcynowanych w temperaturach 400.560°C. Katalizatory scharakteryzowano za pomocą refleksyjnej spektroskopii UV-vis, skaningowej mikroskopii elektronowej oraz badań ex situ i in situ XRD. Wszystkie otrzymane katalizatory okazały się aktywne w reakcji testowej utleniania oktanu w fazie gazowej. Ich aktywność i właściwości fizykochemiczne zależały ściśle od metody preparatyki. Najlepszą aktywność, porównywalną lub wyższą od Degussa P-25 w reakcji testowej, wykazała seria katalizatorów otrzymanych przy użyciu H[2]O/CH[3]COOH/HCl jako agenta hydrolizującego. Użycie dietanoloaminy w procesie syntezy katalizatorów okazało się dużo mniej korzystne dla ich aktywności.
EN
A series of TiO[2] thin films deposited on Pyrex glass was obtained by two sol-gel methods and calcined at various temperatures. The catalysts were characterized by SEM, UV-Vis reflectance spectroscopy, XRD for samples calcined in situ and ex situ, and tested in the photocatalytic oxidation of octane. All obtained catalysts were found to be active in this process. Their activity and physicochemical properties depend strongly on the method of preparation and temperature of calcination. The highest activity was shown by the series of catalysts prepared by using H[2]O/CH[3]COOH/HCl as a hydrolysing agent and calcined.
Rocznik
Strony
47--58
Opis fizyczny
Bibliogr. 26 poz., il., tab., wykr.
Twórcy
autor
  • Instytut Inżynierii Chemicznej i Procesowej, Wydział Inżynierii i Technologii Chemicznej, Politechnika Krakowska
autor
  • Instytut Inżynierii Chemicznej i Procesowej, Wydział Inżynierii i Technologii Chemicznej, Politechnika Krakowska
autor
  • Instytut Inżynierii Chemicznej i Procesowej, Wydział Inżynierii i Technologii Chemicznej, Politechnika Krakowska
autor
  • Instytut Inżynierii Chemicznej i Procesowej, Wydział Inżynierii i Technologii Chemicznej, Politechnika Krakowska
autor
  • Instytut Katalizy i Fizykochemii Powierzchni PAN, Kraków
Bibliografia
  • [1] Peral J., Domenech X., Ollis D.F., J. Chem. Technol. Biotechnol., 70, 1997, 117.
  • [2] Piccot S.C., Watson J.J., Jones J.W., J. Geophys. Res., 97, 1992, 9897.
  • [3] Augugliaro V., Coluccia S., Loddo V., Marchese L., Martra G., Palmisano L., Schiavello M., Appl. Catal. B: Environ., 20, 1999, 15.
  • [4] Alberici R.M., Jardin W.F., Appl. Catal. B: Environ., 14, 1997, 55-68.
  • [5] Zhang J., Ayusawa T., Minagawa M., Kinugawa K., Yamashita H., Matsuoka M., Anpo M., J. Catal., 198, 2001, 1-8.
  • [6] Ao C.H., Lee S.C., Yu J.C., J. Photochem. Photobiol. A, Chem., 156, 2003, 171-177.
  • [7] Dagan G., Tomkiewicz M., J. Phys. Chem., 97, 1993, 12651-12655.
  • [8] Oppenlander T., Photochemical Purification of Water and Air, Wiley-Verlag Chemie, Weinheim 2003.
  • [9] Mills A., Le Hunte S., J. Photochem. Photobiol. A, Chem., 108, 1997, 1-35.
  • [10] Bolton J.R., Sol. Energy, 57, 1996, 37-50.
  • [11] Pandey R.N., Babu K.S.C., Srivastava O.N., Prog. Surf. Sci., 52, 1996, 125-192.
  • [12] Pichart P., Disdier J., Hoang-Vang C., Mas D., Goutailler G., Gaysse C., Catal. Today, 63, 2000, 363-369.
  • [13] Raupp G.B, Alexiadis A., Hassain M., Changrani R., Catal. Today, 69, 2001, 41-49.
  • [14] Lewandowski M., Oills D.F. in. Ramamurthy V., Schanze K.S., Semiconductor Photochemistry and Photophysics Eds., Mol. Supramol. Photochem., 10, Marcel Dekker Inc., New York, Basel 2003, 249-282.
  • [15] Fernandez A., Lassaletta G., Jimenez V.M., Justo A., Gonzalez-Elipe A.R., Herrmann J.M., Tahiri H., Ait-Ichou Y., Appl. Cat. B: Environ., 7, 1995, 49-63.
  • [16] Yu J., Zaho X., Mat. Res. Bull., 35, 2000, 1293-1301.
  • [17] Bruker AXS (2003) TOPAS V2.1: General profile and structure analysis software for powder diffraction data, User’s Manual, Bruker AXS, Karlsruhe, Germany.
  • [18] Zaho J., Yang X., Build. Environ., 38, 2003, 645-654.
  • [19] Cao L., Huang A., Spiess F.J., Suib S.L., J. Catal., 188, 1999, 48-57.
  • [20] Mills A., Le Hunte S., J. Photochem. Photobiol. A, Chem., 108, 1997, 1-35.
  • [21] Kish H., Burgeth G., Macyk W., Adv. Inorg. Chem., 56, 2004, 241-260.
  • [22] Tauc J., Mat. Res. Bull., 5, 1970, 721-730.
  • [23] Radecka M., P. Ceramic Bulletin, 77, 2003.
  • [24] Hoffman A.J., Yee H., Mills G., Hoffmann M.R., J. Phys. Chem. 96, 1992, 5540-5546.
  • [25] Hoffman A.J., Mills G., Yee H., Hoffmann M.R., J. Phys. Chem., 96, 1992, 5546-5552.
  • [26] Anpo M., Shima T., Kodama S., Kubokawa Y., J. Phys. Chem., 91, 1987, 4305-4401.
Uwagi
PL
Praca wykonywana jest w ramach grantu Ministerstwa Nauki i Informatyzacji, grant 09 84//T08/2003/25.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BGPK-1183-5178
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.