Wymagania na rozdzielczość i nieliniowość przetwornika C/A dla sygnału OFDM

• Autorzy: Rudziński A. , Kozłowski S.
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono model analityczny, umożliwiający wyznaczenie błędów wnoszonych do sygnału OFDM w procesie przetwarzania cyfrowo-analogowego. Zaproponowano wyrażenia do oszacowania wymaganej rozdzielczości i dopuszczalnych nieliniowości przetwornika C/A, gwarantujących utrzymanie zniekształceń sygnału poniżej założonego poziomu.

Słowa kluczowe

PL

przetwornik cyfrowo-analogowy; modulacja OFDM; szum kwantyzacji; nieliniowość całkowa; nieliniowość różniczkowa

EN

digital-to-analog converter; OFDM modulation; quantization noise; integral nonlinearity; differential nonlinearity

• Wydawca: Instytut Łączności - Państwowy Instytut Badawczy
• Czasopismo: Telekomunikacja i Techniki Informacyjne
• Rocznik: 2010
• Tom: nr 3-4
• Strony: 78--93
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz., rys.

Twórcy

autor

Rudziński A.

autor

Kozłowski S.

Bibliografia

• [1] Analog-digital conversion. Red. W. Kester, Analog Devices, 2004
• [2] Colotti J.J.: Dynamic evaluation of high-speed, high resolution D/A converters. RF Design, November 1990, s. 51
• [3] Come B. i in.: Impact of front-end non-idealities on bit error rate performance of WLAN-OFDM transceivers. Proc. 2000 IEEE RAWCON, 2000, s. 91–94
• [4] Lee C., El-Tanany M.S., Goubran R.A.: Impacts of non-ideal analog interfacing factors on OFDM baseband signals. Proc. 2005 IEEE IMTC, 2005, s. 762–767
• [5] Gross R., Veeneman D.: SNR and spectral properties for a clipped DMT ADSL signal. 1994 IEEE ICC Conf. Rec., 1994, z. 2, s. 843–847
• [6] Mehrnia A.: Optimum DAC resolution for WMAN, WLAN and WPAN OFDM-based standards. 2005 ICCE Dig. Techn. Papers, 2005, s. 355–356
• [7] McKinley M.D. i in.: EVM calculation for broadband modulated signals. 64th ARFTG Conf. Dig., Orlando, grudzień 2004, s. 45–52
• [8] Spectrum of quantization noise and conditions of whiteness. W: Widrow B., Koll´ar I.: Quantization noise. Cambridge, Cambridge University Press, 2008
• [9] Maxim Integrated Products: INL/DNL Measurements for High-Speed Analog-to-Digital Converter (ADCs). Nota aplikacyjna nr 283, wrzesień 2000