PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Large-Signal RF Modeling with the EKV3 MOSFET Model

Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
This paper presents a validation of the EKV3 MOSFET model under load-pull conditions with high input power at 5.8 GHz, as well as S-parameter measurements with low input power up to 20 GHz. The EKV3 model is able to represent coherently the large- and small-signal RF characteristics in advanced 90 nm CMOS technology. Multifinger devices with nominal drawn gate length of 70 nm are used.
Rocznik
Tom
Strony
29--33
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz., rys.
Twórcy
autor
  • Department of Electronics and Computer Engineering, Technical University of Crete, Chania 73100, Greece, machalkiadaki@isc.tuc.gr
Bibliografia
  • [1] C.-W. Kuo, C.-C. Ho, and Y.-J. Chan, “Scalable large-signal model of 0.18 μm CMOS process for RF power predictions”, Solid-State Electron., vol. 47, no. 1, pp. 77–81, 2003.
  • [2] S. Yoshitomi, “Challenges of compact modeling for deep-submicron RF-CMOS devices”, in Proc. 12th Int. Conf. MIXDES 2005, Kracow, Poland, 2005.
  • [3] C.-C. Wei, C.-S. Cheng, S.-W. Lin, Y.-J. Chen, H.-C. Chiu, and W.-S. Feng, “An improved BSIM4 model for 0.13-um gate-length high linearity CMOS RF transistors”, PIERS Online, vol. 3, no. 7, pp. 1000–1004, 2007.
  • [4] A. Bazigos, M. Bucher, F. Krummenacher, J.-M. Sallese, A.-S. Roy, and C. Enz, “EKV3 MOSFET Compact Model Documentation, Model Version 301.02”, Techn. Rep., Technical University of Crete, June 2008.
  • [5] C. C. Enz and E. A. Vittoz, Charge-Based MOS Transistor Modeling: The EKV Model for Low-Power and RF IC Design. Chichester: Wiley, 2006.
  • [6] S. Yoshitomi, A. Bazigos, and M. Bucher, “The EKV3 model parameter extraction and characterization of 90 nm RF-CMOS technology”, in Proc. 14th Int. Conf. MIXDES 2007, Ciechocinek, Poland, 2007, pp. 74–79.
  • [7] M. Bucher, A. Bazigos, S. Yoshitomi, and N. Itoh, “A scalable advanced RF IC design-oriented MOSFET model”, Int. J. RF Microw. Comput. Aid. Eng., vol. 18, no. 4, pp. 314–325, 2008.
  • [8] M. Bucher and A. Bazigos, “An efficient channel segmentation approach for a large-signal NQS MOSFET model”, Solid-State Electron., vol. 52, no. 2, pp. 275–281, 2008.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BATA-0008-0024
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.