Nadzór nad sprzętem pomiarowo-kontrolnym jako element systemu zarządzania jakością

• Autorzy: Jarysz-Kamińska E.
• Języki publikacji: PL

Słowa kluczowe

PL

nadzór nad sprzętem pomiarowo-kontrolnym

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Problemy Jakości
• Rocznik: 2007
• Tom: R. 39, nr 1
• Strony: 35--37
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz.

Twórcy

autor

Jarysz-Kamińska E.

Bibliografia

• [1] EN ISO 9001:2000 System Zarządzania Jakością. Podstawy i terminologia.
• [2] EN ISO 9001:2000 System Zarządzania Jakością. Wymagania.
• [3] ISO 10012:2003 „System zarządzania pomiarami. Wymagania dotyczące procesów pomiarowych i wyposażenia pomiarowego".
• [4] Materiały firmy C Zeiss IMT Warszawa 2000.
• [5] Sołtys K., Ubych P. „Wymagania normy ISO 9001:2000 -obserwacje w obszarze rozdziału 4 System zarządzania jakością", Zarządzanie Jakością Nr 2/2005.
• [6] Urbaniak M. System zarządzania w praktyce gospodarczej. Centrum Doradztwa i Informacji Diffin Sp. z o.o. Warszawa 2006 r.
• [7] Ustawa Prawo o miarach z dnia 11 maja 2001 r. Dz. U. Nr 63 z 2001 r.- zmiana z dnia 27 maja 2004 r. Dz. U. z 2004 r. Nr 243, póz. 2441 - tekst jednolity.