A study of polymeric films modified with SiC nanoparticles

• Autorzy: Jaglarz J. , Cisowski J. , Bogdał D. , Kassiba A. , Sanetra J.

Warianty tytułu

PL

Badanie cienkich warstw polimerowych modyfikowanych nanocząstkami SiC

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

There were studied optical properties of polymeric films of poly(N-vinylcarbazole) (PVK), polycarbonate (PC), polystyrene (PS) and films of these polymers modified with SiC nanoparticles of size between 20 and 30 nm. Thin polymeric films were deposited on glass plates with spin coating method, using polymer solution in tetrahydrofuran (THF). In order to determine optical parameters of these new materials, the reflection spectrum was examined in the range between 350 and 860 nm, using a reflection probe and an integrating sphere. In order to determine the thickness of examined films, ellipsometric measurements were performed. The examination demonstrated that a small content of SiC nanoparticles in polymers changes the refractive index of the sample without causing its optical heterogeneity. But an increasing content of nanoparticles causes their aggregation, which strengthens light diffusion.

PL

Badano właściwości optyczne cienkich warstw polimerowych poli(N-winylokarbazolu) (PVK), poliwęglanu (PC) oraz polistyrenu (PS) oraz warstw tych polimerów modyfikowanych nanocząstkami SiC o wymiarach rzędu 20-30 nm. Cienkie warstwy polimerów nanoszono na płytki szklane metodą powlekania wirowego stosując roztwór polimeru w tetrahydrofuranie (THF). Do wyznaczenia parametrów optycznych tych nowych materiałów przeprowadzono badania widm odbicia w zakresie 350-860 nm z użyciem sondy odbiciowej i sfery integrującej. W celu wyznaczenia grubości badanych warstw, wykonano pomiary elipsometryczne. Badania wykazały, że niewielka zawartość nanocząstek SiC w polimerach zmienia współczynnik załamania światła próbki, nie powodując przy tym optycznej niejednorodności (tabela 1, rys. 1 i 2). Jednak zwiększanie zawartości nanocząstek powoduje ich agregację, co skutkuje wzmocnieniem rozpraszania światła (rys. 3 i 4).

Słowa kluczowe

EN

thin polymeric films; SiC nanoparticles; nanoparticle-modified polymers; optical properties

PL

cienkie warstwy polimerowe; nanocząstki SiC; polimery modyfikowane nanocząstkami; właściwości optyczne

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Chemii Przemysłowej
• Czasopismo: Polimery
• Rocznik: 2010
• Tom: T. 55, nr 5
• Strony: 399--402
• Opis fizyczny: Bibliogr. 13 poz., wykr.

Twórcy

autor

Jaglarz J.

autor

Cisowski J.

autor

Bogdał D.

autor

Kassiba A.

autor

Sanetra J.

• Cracow University of Technology, Institute of Physics, ul. Podchorążych 1, 30-084 Kraków, Poland,

Bibliografia

• 1. Kalinowski J.: “Polymers and other Advanced Materials: Emerging Technologies and Business Opportunities” (Eds. Prasad P. N., Mark J. E., Fai T. J.), Plenum Press, New York 1995, pp. 361-368.
• 2. Glatthaar M., Meyer T., Meyer A.: Solar Energy Mater. Sol. Cells 2007, 91, 379.
• 3. Bogdał D., Jaskot K.: Synth. Commun. 2000, 38, 3341.
• 4. Bogdał D., Warzała M., Pielichowski J., Sanetra J.: Polimery 1999, 44, 146.
• 5. Patel S., Ramrakhiani M., Bisen D. P.: J. Appl. Polym. Sci. 2007, 104, 722.
• 6. Lipson S. M., O’Brien D. F., Byrne H. J., Davey A. P., Blau W. J.: Thin Solid Films 2000, 370, 262.
• 7. Kassiba A., Tabellout M., Charpentier S., Herlin N., Emery J. R.: Solid State Commun. 2000, 115, 389.
• 8. Martinez-Anton J. C.: Appl. Opt. 2000, 25, 39.
• 9. Azzam R. M. A., Bashara N. M.: “Ellipsometry and Polarized Light”, Nord Holland, Amsterdam 1989.
• 10. Jaglarz J., Cisowski J., Jurusik J., Domański M.: Rev. Adv. Mater. Sci. 2004, 8, 82.
• 11. Stover J. C.: “Optical Scattering. Measurements and Analysis”, SPIE Publ., Belligham (USA) 1995.
• 12. Yaroshchuk O. V., Dolgov L. O.: Opt. Mater. 2007, 29, 1097.
• 13. Palik E. D.: “Handbook of Optical Constants of Solids”, Academic Press, New York 1998.