Determination of the parameters of lamellar structure of semicrystalline polymers using a computer program SAXSDAT

• Autorzy: Rabiej S. , Rabiej M.

Warianty tytułu

PL

Wyznaczanie parametrów struktury lamelarnej polimerów semikrystalicznych za pomocą programu komputerowego SAXSDAT

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

A computer program SAXDAT for the analysis of small angle X-ray scattering (SAXS) curves of semicrystalline polymers is described. The program is based on a lamellar stack model of polymer structure. In the program, the parameters of stacks can be determined from one-dimensional correlation function calculated as a Fourier transform of intensity distribution or by model calculations which consist in fitting of a theoretical intensity distribution function to the experimental curve. The program can be applied to single curves as well as to big sets of curves obtained from time resolved experiments. Both point and slit collimation recording systems are acceptable.

PL

W pracy opisano możliwości opracowanego przez autorów programu komputerowego SAXSDAT przeznaczonego do analizy krzywych małokątowego rozpraszania promieniowania rentgenowskiego (SAXS) otrzymanych podczas badań polimerów semikrystalicznych. Algorytmy programu wykorzystują zależności znane z teorii rozpraszania promieniowania rentgenowskiego przez polimery semikrystaliczne, opracowane przy założeniu lamelarnego modelu ich struktury wewnętrznej. Program może być stosowany do analizy pojedynczych krzywych SAXS otrzymanych w eksperymentach statycznych, przy użyciu klasycznych kamer małokątowych typu kamera Kratky'ego, jak też do wieloelementowych zbiorów krzywych otrzymywanych w eksperymentach dynamicznych prowadzonych z zastosowaniem promieniowania synchrotronowego. Jego istotną zaletą jest to, że może być używany do opracowania krzywych zarejestrowanych przy użyciu zarówno punktowego jak i szczelinowego systemu kolimacji wiązki pierwotnej. Jednym z głównych zadań programu jest wyznaczenie tzw. jednowymiarowej funkcji korelacyjnej charakteryzującej strukturę warstwowych domen wypełniających objętość polimeru. Na podstawie przebiegu tej funkcji, obliczane są wszystkie parametry charakteryzujące strukturę tych domen: grubość lamel krystalicznych i warstw amorficznych, wielki okres, objętościowy stopień krystaliczności domen, grubość obszaru przejściowego na granicy faz, inwariant idealny i rzeczywisty.

Słowa kluczowe

EN

small angle X-ray scattering; correlation function; semicrystalline polymers; lamellar structure; computer program

PL

małokątowe rozpraszanie rentgenowskie; funkcja korelacyjna; polimery semikrystaliczne; struktura lamelarna; program komputerowy

• Wydawca: Sieć Badawcza Łukasiewicz – Instytut Chemii Przemysłowej
• Czasopismo: Polimery
• Rocznik: 2011
• Tom: T. 56, nr 9
• Strony: 662--670
• Opis fizyczny: Bibliogr. 34 poz.

Twórcy

autor

Rabiej S.

autor

Rabiej M.

• University of Bielsko-Biała ul. Willowa 2, 43-300 Bielsko-Biała, Poland,

Bibliografia

• 1. Hosemann R.: Z. Phys. 1949, 127, 16.
• 2. Hosemann R., Bagchi S. N.: “Direct Analysis of Diffraction by Matter”, North Holland, Amsterdam 1962.
• 3. Vonk C. G., Kortleve G.: Kolloid Z. Z. Polym. 1967, 220, 19.
• 4. Kortleve G., Vonk C. G.: Kolloid Z. Z. Polym. 1968, 225, 124.
• 5. Vonk C. G.: J. Appl. Crystalogr. 1971, 4, 340.
• 6. Vonk C. G.: J. Appl. Crystalogr. 1973, 6, 81.
• 7. Vonk C. G.: J. Appl. Crystalogr. 1978, 11, 541.
• 8. Vonk C. G., Pijpers A. P.: J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 1985, 23, 2517.
• 9. Balta Calleja F. J., Vonk C. G.: "X-Ray Scattering of Polymers", Elsevier, Amsterdam 1989.
• 10. Ruland W.: Acta Cryst. 1964, 17, 138.
• 11. Ruland W.: J. Appl. Crystalogr. 1971, 4, 70.
• 12. Ruland W.: J. Appl. Crystalogr. 1974, 7, 383.
• 13. Ruland W.: Colloid Polym. Sci. 1977, 255, 417.
• 14. Stribeck N., Ruland W.: J. Appl. Crystalogr. 1978, 11, 535.
• 15. Ruland W.: Colloid Polym. Sci. 1978, 256, 932.
• 16. Weigand W., Ruland W.: Prog. Colloid Polym. Sci. 1979, 66, 335.
• 17. Blundell D. J.: Acta Cryst., Sect. A: Found Crystallogr. 1970, 26, 472.
• 18. Blundell D. J.: Acta Cryst., Sect. A: Found Crystallogr. 1970, 26, 476.
• 19. Blundell D. J.: Polymer 1978, 19, 1258.
• 20. Strobl G. R.: Acta Cryst., Sect. A: Found Crystallogr.1970, 26, 367.
• 21. Strobl G. R.: Kolloid Z. Z. Polym. 1972, 250, 1039.
• 22. Strobl G. R.: J. Appl. Crystallogr. 1973, 6, 365.
• 23. Strobl G. C., Muller N. J.: J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 1973, 11, 1219.
• 24. Strobl G. R., Schneider M.: J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 1980, 18, 1343.
• 25. Albrecht T., Strobl G.: Macromolecules 1995, 28, 5827.
• 26. Todo A., Hashimoto T., Kawai H.: J. Appl. Crystallogr. 1978, 11, 558.
• 27. Hashimoto T., Shibayama M., Kawai H.: Macromolecules 1980, 13, 1237.
• 28. Koberstein J. T., Morra B., Stein R. S.: J. Appl. Crystallogr. 1980, 13, 34.
• 29. Crist B., Morosoff N.: J. Polym. Sci., Part B: Polym. Phys. 1973, 11, 1023.
• 30. Hendricks R. W., Schmidt P. W.: Acta Phys. Austriaca 1967, 26, 97.
• 31. Hendricks R. W.: J. Appl. Crystallogr. 1972, 5, 315.
• 32. Buchanan M., Hendricks R. W.: J. Appl. Crystallogr. 1971, 4, 176.
• 33. Singh M. A., Gosh S. S., Shannon R. F.: J. Appl. Crystallogr. 1993, 26, 787.