Wejściowo-wyjściowa metoda detekcji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych uwzględniająca tolerancje elementów

• Autorzy: Czaja Z.

Warianty tytułu

EN

An input-output fault detection method of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements

• Konferencja: Diagnostics'04, III Międzynarodowy Kongres Diagnostyki Technicznej (6-9 września 2004, Poznań, Polska)
• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono nowe podejście detekcji i lokalizacji uszkodzeń w elektronicznych układach analogowych z uwzględnieniem tolerancji elementów. Składa się ono z dwóch etapów. W pierwszym etapie tworzony jest słownik uszkodzeń składający się z opisu elipsy aproksymującej obszar nominalny reprezentujący brak uszkodzeń i współczynników określających szerokość pasów lokalizacyjnych. Zaprezentowano nowy algorytm tworzenia takiej elipsy i algorytm wyznaczania szerokości pasa lokalizacyjnego. W drugim etapie omówiono algorytm detekcji i lokalizacji uszkodzeń.

EN

In the paper a new approach of fault detection and localisation of analog electronic circuits taking into consideration tolerances of elements is described. It consists of two stages. In the first stage a fault dictionary consisting of description of an ellipse, which approximates a nominal area representing a fault-free circuit, and coefficients defining widths of localisation bells are created. A new algorithm of generation of the ellipse and the algorithm of determination of the width of localisation bell are presented. In the second stage the algorithm of fault detection and localisation is described.

Słowa kluczowe

PL

detekcja uszkodzeń; lokalizacja uszkodzeń; analogowy układ elektroniczny

EN

fault detection; fault localization; analog electronic circuits

• Wydawca: Polskie Towarzystwo Diagnostyki Technicznej
• Czasopismo: Diagnostyka
• Rocznik: 2004
• Tom: Vol. 30, T. 1
• Strony: 119--122
• Opis fizyczny: Bibliogr. 5 poz., rys.

Twórcy

autor

Czaja Z.

• Politechnika Gdańska, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki, Katedra Metrologii i Systemów Elektronicznych, ul. G. Narutowicza 11/12, 80-952 Gdańsk,

Bibliografia

• [1] Czaja Z., Zielonko R.: On fault diagnosis of analogue electronic circuits with accessibility to internal nodes based on transformations in multidimensional spaces. In proc. of XVII IMEKO World Congress, June 22-27, 2003, Dubrovnik, Croatia CD-ROM str. 1493-1497.
• [2] Martens G., Dyck J.: Fault identification in electronic circuit with the aid of bilinear transformation, IEEE Trans. on Reliability, No 2, May 1972, str. 99-104.
• [3] Czaja Z., Zielonko R.: Fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in 3D and 4D spaces. IEEE Trans. on Instrumentation and Measurement, February 2003, Vol. 52, No.1, str. 97-102.
• [4] Czaja Z., Zielonko R.: New methods of fault diagnosis in electronic circuits based on bilinear transformation in multidimensional spaces, Metrology and Measurement Systems, Vol. VIII. Number 3, PWN Warsaw 2001, str. 251-262.
• [5] Czaja Z.: A self-testing approach to testing of mixed analog-digital microsystems based on microcontrollers. In proc. of XVII IMEKO World Congress, June 22-27, 2003, Dubrovnik, Croatia, CD-ROM str. 742-745.