Modification of the rotating crystal method for examining MBE structures, such as PbTe layers formed on BaF2 substrate

• Autorzy: Przedpełski W. , Ziencik H.
• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

A modification of the rotating crystal X-ray diffraction method was used for examining the structure of thin layers, such as e.g., PbTe layers produced by MBE. These examinations were used for comparing the structures of real and ideal crystals.

Słowa kluczowe

PL

cienka warstwa krystaliczna; dyfrakcyjna metoda badań; MBE; metoda wirującego kryształu

• Wydawca: Instytut Podstawowych Problemów Techniki PAN
• Czasopismo: Journal of Technical Physics
• Rocznik: 1999
• Tom: Vol. 40, no 2
• Strony: 175--179
• Opis fizyczny: Bibliogr. 2 poz.,

Twórcy

autor

Przedpełski W.

autor

Ziencik H.

• Military University of Technology, 2, S. Kaliski Str., O1-489 Warsaw, Poland