Dendritic microstructures in cast Al-Si alloys - an analysis of dispersion factors

• Autorzy: Warmuzek M.

Warianty tytułu

PL

Mikrostruktury dendrytyczne odlewniczych stopów Al-Si - analiza wskaźników stopnia dyspersji

• Języki publikacji: EN

Abstrakty

EN

The methods to evaluate the degree of dendritic structure dispersion in hypoeutectic Al-Si alloys were examined. The technique of direct measurement of dendrite arm and axis spacing was discussed and some criteria of the choice of stereological parameters used as a measure of this spacing were described. The results of measurements of the secondary dendrite arm spacing lambda2 and of the mean chord length and dendrite axis spacing were quoted. A statistical analysis of the results was made and some relationships exiting between the measured structural parametres were derived.

PL

W pracy przeanalizowano metody oceny stopnia dyspersji struktury dendrytycznej w podeutektycznych stopach Al-Si. Omówiono metodę bezpośredniego pomiaru odległości ramion i osi dendrytów oraz kryteria doboru parametrów stereologicznych, stosowanych jako ich miara. Przedstawiono wyniki pomiarów odległości ramion dendrytów II rzędu lambda2 oraz długości średniej cięciwy i odległości osi dendrytów. Przeprowadzono statystyczną analizę wyników i wyznaczono zależności pomiędzy mierzonymi parametrami struktury.

Słowa kluczowe

EN

degree of dispersion; structural parameter

PL

analiza pomiarów; parametry struktury dendrytycznej; stopy aluminium

• Wydawca: Instytut Odlewnictwa
• Czasopismo: Prace Instytutu Odlewnictwa
• Rocznik: 1998
• Tom: R. 48, z. 1-2
• Strony: 55--73
• Opis fizyczny: Bibliogr. 9 poz.,Fot., tabl.,

Twórcy

autor

Warmuzek M.