PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Model badania potwierdzającego niezawodność dla dwumianowych systemów o rosnącej niezawodności

Autorzy
Treść / Zawartość
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Reliability demonstration test model for binomial systems with reliability growth
Języki publikacji
EN
Abstrakty
EN
Many complex engineering systems experience reliability growth in successive test stages. In most existing reliability demonstration test models, reliability growth is not incorporated. In this paper, for binomial systems with 2 test stages, a reliability demonstration test model is presented that takes possible reliability growth into consideration. Likelihood ratios are defi ned for various possible situations, and statistical decision rules are derived. With a given example, the relative lower decision risk of the proposed model is illustrated by comparison with that of classical demonstration test models.
PL
Wiele złożonych systemów inżynieryjnych przechodzi proces wzrostu niezawodności w kolejnych etapach badań. Większość istniejących modeli badań potwierdzających niezawodność nie uwzględnia jednak wzrostu niezawodności. W niniejszym artykule przedstawiono model badania niezawodności dla systemów dwumianowych o 2 etapach testowych, który bierze pod uwagę możliwy wzrost niezawodności. Określono wskaźniki prawdopodobieństwa dla różnych możliwych sytuacji oraz wyprowadzono statystyczne reguły decyzyjne. Podany przykład ilustruje względnie niższe ryzyko decyzyjne proponowanego modelu w stosunku do tego, jakie niosą klasyczne modele badań.
Rocznik
Tom
Strony
55--58
Opis fizyczny
Bibliogr. 8 poz.
Twórcy
autor
autor
  • College of Information Systems &Management National University of Defense Technology Changsha, Hunan, 410073, P.R. China, xiaoyuewucn@yahoo.com.cn
Bibliografia
  • 1. An W G, Zhou Y Q. Analysis on reliability for a certain solid rocket engine. Journal of Propulsion Technology 1997; 18(4): 14-17.
  • 2. Casella G, Berger R L. Statistical inference, 2nd. ed., Beijing: China Machine Press 2002.
  • 3. Li X J, Yan J. reliability integrated compliance test based on reliability growth information. Journal of Astronautics 2008; 29(3): 1074-1079.
  • 4. Lin M T, Min X. Bayes reliability demonstration test plan for series-systems with binomial subsystem data. 1998 Proceedings Annual Reliability and Maintainability Symposium 1998; 241-246.
  • 5. Mazzuchi T A, Soyer R. A Bayes method for assessing product-reliability during development testing. IEEE Transactions on Reliability 1993; 42(3): 503-510.
  • 6. Mazzuchi T A, Soyer R. Reliability assessment and prediction during product development. 1992 Proceedings Annual Reliability and Maintainability Symposium 1992; 468-474.
  • 7. Patterson J L, Dietrich D. Dirichlet binomial attribute testing model: a Bayesian approach to estimating reliability decay. 2001 Proceedings Annual Reliability and Maintainability Symposium 2001; 393-400.
  • 8. Wu X Y, Liu Q. Test & evaluation of military equipment. Beijing: National Defense Industry Press 2008.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAT1-0035-0021
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.