Opracowanie bazy danych dla identyfikacji struktur wielofazowych za pomocą skaningowego mikroskopu elektronowego Inspect F wyposażonego w EBSD, EDS i WDS

• Autorzy: Gazdowicz J. , Radwański K. , Krztoń H.

Warianty tytułu

EN

Development of database for identification of multi-phase structures using scanning electron microscope Inspect F fitted with a EBSD, EDS and WDS

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Opracowano i przedstawiono na przykładzie węglika tantalu metodykę tworzenia nowych kart materiałowych o wzorcowych układach linii Kikuchiego. Bazując na opracowanej metodyce utworzono własną bazę danych pod nazwą "IMZ" dla stopów wielofazowych. W oparciu o tę bazę przeprowadzono badania aplikacyjne identyfikowanych faz na przykładzie 2 różnych stopów niklu.

EN

The methodology for creation of new material cards with standard Kikuchi line systems on the example of tantalum carbide was developed and presented. Based on the developed methodology, the own databases named "IMZ" was created for heterogeneous alloys. Using this database, the application tests for identified phases were carried out on the example of two nickel alloys.

Słowa kluczowe

PL

identyfikacja; struktura wielofazowa; mikroskopu skaningowy

EN

identification; multi-phase structures; scanning electron microscope

• Wydawca: Instytut Metalurgii Żelaza im. Stanisława Staszica
• Czasopismo: Prace Instytutu Metalurgii Żelaza
• Rocznik: 2012
• Tom: T. 64, nr 3
• Strony: 85--88

Twórcy

autor

Gazdowicz J.

autor

Radwański K.

autor

Krztoń H.

• Instytut Metalurgii Żelaza