Zastosowanie nowoczesnej mikroskopii elektronowej do badań procesów wydzieleniowych w stalach AHSS oraz mikrostruktury i składu chemicznego warstw wierzchnich i materiałów o małej przewodności elektrycznej

• Autorzy: Arabasz S. , Skupień P. , Radwański K. , Gazdowicz J.

Warianty tytułu

EN

Use of modern electron microscopy for research on precipitation processes in AHSS steels and on microstructure and chemical composition of surface layers and materials with low electrical conductivity

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Celem pracy było opracowanie procedur przygotowania próbek warstwowych do badań metodami mikroskopii S/TEM oraz ocena możliwości technik S/TEM do analizy wydzieleń różnej wielkości. Ponadto, zbadano możliwość wykorzystania trybów niskopróżniowych SEM do badania próbek nieprzewodzących.

EN

The purpose of the work was to develop procedures for preparation of layer samples for testing by S/TEM microscopy methods and assess the abilities of S/TEM techniques for analysis of precipitations with different sizes. In addition, the possibility to use low-vacuum modes of SEM operation for testing low-conductivity samples was examined.

Słowa kluczowe

PL

mikroskopia elektronowa; stala AHSS; mikrostruktura; skład chemiczny; przewodność elektryczna

EN

electron microscopy; AHSS steels; chemical composition; electrical conductivity

• Wydawca: Instytut Metalurgii Żelaza im. Stanisława Staszica
• Czasopismo: Prace Instytutu Metalurgii Żelaza
• Rocznik: 2012
• Tom: T. 64, nr 3
• Strony: 82--85
• Opis fizyczny: Bibliogr. 4 poz.

Twórcy

autor

Arabasz S.

autor

Skupień P.

autor

Radwański K.

autor

Gazdowicz J.

• Instytut Metalurgii Żelaza

Bibliografia

• 1. Ayache J., Beaunier L., Boumendil J., Ehret G., Laub D.: Sample Preparation Handbook for Transmission Electron Microscopy: Methodology, Springer Science; 2010
• 2. Williams D.B., Carter C.B.: Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer 2009
• 3. Stokes D.J.: Principle and Practice of Variable Pressure/Environmental Scanning Electron Microscopy (VP-ESEM), Viley 2008
• 4. Newbury D.E.: X-Ray Microanalysis in the Variable Pressure (Environmental) Scanning Electron Microscope J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 107, 567-603 (2002)