Mikro- i nanoanaliza materiałów przy pomocy technik EELS, EFTEM oraz tomografii w wysokorozdzielczym mikroskopie s/tem - podstawy, wymagania, przegląd literatury i przygotowanie do wdrożenia w IMŻ

• Autorzy: Arabasz S. , Wojtas J. , Maciosowski A. , Wiedermann J.

Warianty tytułu

EN

Micro- and nanoanalysis of materials by EELS, EFTEM and tomography in high-resolution s/tem microscope - grounds, requirements, review of literature and preparation for implementation at the Instytut Metalurgii Żelaza

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W pracy rozpoznano możliwości badawcze nowych technik transmisyjnej mikroskopii elektronowej opartych o filtrację energii elektronów przechodzących przez próbkę - spektroskopii strat energii EELS oraz obrazowania EFTEM. Zwrócono szczególną uwagę na ich zastosowanie do analizy struktury i składu chemicznego próbek stalowych, na przygotowanie próbek oraz na dobór odpowiednich parametrów pracy mikroskopu dla tych technik.

EN

In this work, the research capabilities of the new transmission electron microscope techniques based on energy filtration of electrons transmitted through the sample, i.e. electron energy loss spectroscopy (EELS) and energy-filtered transmission electron microscopy (EFTEM) imaging, were identified. Particular attention was paid to their application in analysis of structure and chemical composition of steel samples and to sample preparation and selection of microscope operating parameters suitable for these techniques.

Słowa kluczowe

PL

analiza; technika EELS; technika EFTEM; tomografia; mikroskop S/TEM; wdrożenie

EN

analysis; EELS; EFTEM; tomography; S/TEM microscope; implemetation

• Wydawca: Instytut Metalurgii Żelaza im. Stanisława Staszica
• Czasopismo: Prace Instytutu Metalurgii Żelaza
• Rocznik: 2010
• Tom: T. 62, nr 4
• Strony: 72--75
• Opis fizyczny: BIbliogr. 8 poz.

Twórcy

autor

Arabasz S.

autor

Wojtas J.

autor

Maciosowski A.

autor

Wiedermann J.

• Instytut Metalurgii Żelaza

Bibliografia

• 1. Rose H.H.: J.. Electr. Microsc. 58 (2009) 77-85.
• 2. Ahn C.C.rTransmission Electron Energy Loss Spectrometry in Materials Science and the EELS atlas, Wiley-VCH 2004.
• 3. Williams D.B., Carter C.B.: Transmission Electron Microscopy: A Textbook for Materials Science, Springer 2009.
• 4. Gatan Inc., httpyAvww.gatan.com
• 5. Maciosowski A., Arabasz S., Wiedermann J.: Sprawozdanie z pracy badawczej IMŻ Nr S0-0682/BL/2008.
• 6. Golla-Schindler U., Benner G., Putnis A.: Ultramicroscopy 96 (2003) 573-582.
• 7. Coast-Smith L., Brydson R., Tsakiropoulos P.: Micron 29 (1998) 17-23.
• 8. Maile K.: Int. J. Pressure Yessels and Piping 84 (2007) 62-68.