Analiz rynkowa i przeprowadzenie badań weryfikacyjnych współczesnych mikroskopów elektronowych prześwietleniowych

• Autorzy: Maciosowski A. , Arabasz S. , Wiedermann J.

Warianty tytułu

EN

Market analysis and verification of contemporary transmission electron microscopes

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Celem pracy było rozpoznanie propozycji rynkowych w dziedzinie mikroskopów elektronowych prześwietleniowych oraz rozwiązań technicznych i analitycznych stosowanych w nowoczesnej elektronowej mikroskopii prześwietleniowej, a także zweryfikowanie możliwości badawczych na próbach własnych. Wskazano model mikroskopu wraz z wyposażeniem i oprzyrządowaniem do preparatyki próbek najlepiej spełniający potrzeby badawcze w metalurgii. Praca związana była z przewidywanym zakupem nowoczesnego elektronowego mikroskopu prześwietleniowego przez Instytut Metalurgii Żelaza.

EN

The purpose of this paper was to recognise the market proposals in the field of transmission electron microscopes and technical and analytical solutions used in modern transmission electron microscopy as well as to verify the research capabilities by own tests. The model of microscope with equipment and instrumentation for preparation of samples that best satisfy the research needs in metallurgy was selected. This paper was related to the expected purchase of modern transmission electron microscope by the Institute for Ferrous Metallurgy.

Słowa kluczowe

PL

mikroskop elektronowy; analiza; rynek

EN

electron microscope; analysis; market

• Wydawca: Instytut Metalurgii Żelaza im. Stanisława Staszica
• Czasopismo: Prace Instytutu Metalurgii Żelaza
• Rocznik: 2009
• Tom: T. 61, nr 4
• Strony: 44--46
• Opis fizyczny: Bibliogr. 6 poz.

Twórcy

autor

Maciosowski A.

autor

Arabasz S.

autor

Wiedermann J.

• Instytut Metalurgii Żelaza

Bibliografia

• 1. Watanabe M., Ackland D. W., Kiely C. J., Williams D. B., Kanno M., Hynes R., Sawada H.: JEOL News, 41, 2006, s. 2-7.
• 2. Kirkland A. I., Chang L.-Y., Hutchison J. L.: JEOL News, 41, 2006, s. 8-11.
• 3. Williams D. B., Carter C. B.: Transmission Electron Microscopy, 2004, Plenum Publishing Company.
• 4. Ahn C. C. (ed.): Transmission Electron Energy Loss Spectrometry In Materials Science And The EELS Atlas, wyd. 2, 2004, Viley-VCH.
• 5. Tsuno K.: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research A, 519, 2004, s. 286-296.
• 6. Hutchison J. L., Titchmarsh J. M., Cockayne D. J. H, Doole R. C, Hetherington C. J. D., Kirkland A. I., Sawada H.: Ultramicroscopy, 103, 2005, s. 7-15