PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Opracowanie metodyki badań wzajemnej orientacji krystalograficznej ziarn metali i stopów za pomocą analizatora EBSD

Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Development of methodology for testing of reciprocal crystallographic orientation of metal and alloy grains using EBSD analyser
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Celem pracy było opracowanie metodyki badań wzajemnej orientacji krystalograficznej ziarn metali i stopów za pomocą mikroskopu skaningowego INSPECT F wyposażonego w analizator EBSD (dyfrakcja elektronów wstecznie rozproszonych). Przetwarzanie zarejestrowanych dyfrakcji elektronów wstecznie rozproszonych pozwala uzyskać wiele informacji dotyczących budowy krystalograficznej, między innymi dotyczących rozmiaru ziarna, jego orientacji, kształtu, typu granic ziarn, wielkości kątów dezorientacji oraz ich rozkładu, jak również tekstury. Badania za pomocą mikroskopu skaningowego przy użyciu metody EBSD wymagają dobrej jakości badanej powierzchni próbki oraz doboru m. in. takich parametrów jak napięcie przyspieszające elektronów, wielkość plamki czy dobór powiększenia dla potrzeb analizy. Efektem niniejszej pracy jest opracowana metodyka badawcza w zakresie przygotowania próbek, doboru parametrów i analizy materiałów za pomocą analizatora EBSD. Ponadto, wykonano badania rozpoznawcze z użyciem analizatora EBSD na przykładzie stali jednofazowej typu IF oraz stali dwufazowej X2CrNiMoN22-5-3.
EN
The purpose of the work was to develop the methodology for testing of reciprocal crystallographic orientation of metal and alloy grains using INSPECT F scanning microscope fitted with EBSD analyser (diffraction of backscattered electrons). Processing of the recorded diffractions of backscattered electrons allows obtaining a lot of information concerning the crystallographic structure, among other things the information on grain size, its orientation, shape, type of grain boundaries, values and distribution of disorientation angles, as well as texture. The tests carried out by means of scanning microscope using the EBSD method require good quality of examined sample surface and selection of parameters such as accelerating voltage of electrons, spot size or selection of magnification for the needs of analysis. The effect of this work is the research methodology for preparation of samples, selection of parameters and analysis of materials using the EBSD analyser. In addition, the reconnaissance tests were carried out using the EBSD analyser on the example of IF-type single-phase steel and X2CrNiMoN22-5-3 two-phase steel.
Rocznik
Strony
46--49
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., tab.
Twórcy
autor
  • Instytut Metalurgii Żelaza
Bibliografia
  • 1. Faryna M.: Analiza zależności krystalograficznych faz składowych w kompozytach z osnową ceramiczną, PAN, Kraków 2003.
  • 2. Dingley D.J., Randle V.: Microtexture determination by electron backscatter diffraction, Journal of Material Science, 27, s. 4545-4566.
  • 3. Schwartz A., Kumar M., L. Adams B.: Electron Backscatter Diffraction in Materials Science, Kluwer, 2000.
  • 4. Sprawozdanie z pracy statutowej nr SO-0624.
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAR8-0001-0041
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.