PL EN


Preferencje help
Widoczny [Schowaj] Abstrakt
Liczba wyników
Tytuł artykułu

Wpływ tlenu i tytanu na mikrostrukturę warstw metalicznych Mo, Mn wytwarzanych na ceramice AIN

Autorzy
Wybrane pełne teksty z tego czasopisma
Identyfikatory
Warianty tytułu
EN
Properties of metallic layers sintered on nitride ceramics depending on the oxygen and titanium content in the reactive layer
Języki publikacji
PL
Abstrakty
PL
Przedstawiono wyniki prac nad wytwarzaniem warstw metalicznych molibdenowo-manganowych spiekanych w atmosferze suchego wodoru (p. rosy 203 K). Badano standardowe warstwy metaliczne MoMn, do których wprowadzano tlen w ilości 0:40% atomowych oraz tytan w ilości 0:8% atomowych. Spiekanie warstw wykonano w temperaturach 1573:1673 K. Przedstawiono badania mikrostruktury warstw metalicznych spiekanych na ceramikach AIN, Si3N4 oraz Al2O3. Opisano mechanizm spiekania warstw metalicznych Mo, Mn porównawczo na ceramice korundowej i ceramice z AIN.
EN
Production of metallic layers on non-oxide ceramic materials using the powder metallization method is difficult because of the poor wettability of these materials by both molten metals and by glasses. An additional difficulty is that, at temperatures above 11423 K, ceramic materials, both alumina nitride and silicon nitride ceramics are sensitive to humidity, since in an atmosphere of water-containing hydrogen ammonia is synthesized and nitrides decompose. The present study was, there­fore, devoted to the deposition of metallic layers on nitride ceramic substrates, sintered in an atmosphere of dry hydrogen. The effects of the oxygen and titanium contents in the reactive layer deposited on nitride ceramics (AIN, Si3N4) on the wettability and sintering capability of the metallic layers were examined. The deposited metallic layers were standard Mo and Mn layers with the oxygen content ranging from 0 to 40 at. % and the titanium content from 0 to 8 at. %. The layers were sintered at a temperature between 1573 and 1653 K in a hydrogen atmosphere (dew point 203 K). The microstructure of the metallic layers was examined using a scanning electron microscope (figs 1-3) and an electron probe (fig. 4). A considerable migration of Al and Si to the interface layer was observed. The microstructure of the metallic layers sintered on nitride ceramics appeared to be very similar to the microstructure of metallic layers deposited on alumina oxide ceramics (figs 5-6). In the transition layers between the Al2O3 or AIN ceramic material and the metallic layer, a continuous glass layer is formed on the ceramic surface, which wets very well both the substrate and the metallic powders. The metallic layer is compact and the braze does not penetrate between the grains.
Czasopismo
Rocznik
Strony
96--99
Opis fizyczny
Bibliogr. 4 poz., rys.
Twórcy
  • Instytut Technologii Materiałów Elektronicznych, ul. Wólczyńska 133, 01-919 Warszawa
Bibliografia
  • [1] Blum J.B., Kazuo Anzai, Aluminium nitride substrates for hybrid microelektronic applications, Hybrid Circuit Technol. 1989, August, 7-14.
  • [2] Patent USA 4,409,079.
  • [3] Yasuhiro Kurorawa, William D. Scott, Characterization of the AlN-W Interface in a Cofired Multilayer AlN Substrate, J. Am. Ceram. Soc. 1989, 72, 612-16.
  • [4] Paulasto M., Interfacial reactions in Ti/Si3N4 and TiN/Si diffusion couples, J. Appl. Phys. 1995, 77(9), 1, May 1995
Typ dokumentu
Bibliografia
Identyfikator YADDA
bwmeta1.element.baztech-article-BAR2-0007-0068
JavaScript jest wyłączony w Twojej przeglądarce internetowej. Włącz go, a następnie odśwież stronę, aby móc w pełni z niej korzystać.