Układ konwersji energii promienistej na czas trwania impulsu

• Autorzy: Gilewski M.

Warianty tytułu

EN

A system for converting radiant energy into pulse duration

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

Przedstawiono struktury torów pomiarowych dla pośredniej i bezpośredniej metody pomiaru szkodliwości promieniowania optycznego na organizm ludzki. Omówiono koncepcję układu pomiarowego konwertującego wartość napromienienia na czas trwania impulsu sygnału cyfrowego, jego przykładowe rozwiązania aplikacyjne i zakres stosowania.

EN

Structures of measurement lines for the indirect and direct method for assessing the harmfulness of optical radiation to human organism. An idea of a measurement system converting irradiation into the duration of a pulse of a digital signal. An example of practical solution of the system, range of its applications.

Słowa kluczowe

PL

promieniowanie optyczne; organizm ludzki; szkodliwość; metoda pomiarowa

EN

optical radiation; human organism; measurement system

• Wydawca: Wydawnictwo SIGMA-NOT
• Czasopismo: Wiadomości Elektrotechniczne
• Rocznik: 2002
• Tom: R. LXX, nr 12
• Strony: 549--552
• Opis fizyczny: Bibliogr. 8 poz., rys., wykr.

Twórcy

autor

Gilewski M.

• Wydział Elektryczny Politechniki Białostockiej, członek SEP

Bibliografia

• [1] Zagrożenia i ochrona przed nielaserowym promieniowaniem optycznym w środowisku pracy. CiOP. Warszawa 2001
• [2] CADER A.: Biofizyczne aspekty oddziaływania promieniowania ultrafioletowego na skórę człowieka. Wydawnictwo WAM, Łódź 1997
• [3] Precision switched integrator transimpedance amplifier. Burr-Brown Corporation, USA 1996. www.burr-brown.com
• [4] DYBCZYŃSKI W.: Miernictwo promieniowania optycznego. Dział Wydawnictw Politechniki. Białostockiej, Białystok 1996
• [5] Hamamatsu Photonics K.K.: Photodiodes. Hamamatsu City, Japan 1999
• [6] Low noise, dual switched integrator. Burr-Brown Corporation, USA 1994
• [7] Low power dual voltage comparators. STMicroelectronics, USA 1998, www.st.com
• [8] LT1004-2.4 micropower integrated voltage references. Texas Instruments, USA 1999