Mikroskop STM/AFM do zastosowań badawczych w zaawansowanych technologiach w przemyśle oraz w dydaktyce szkół wyższych

• Autorzy: Majcher A. , Mrozek M. , Zbrowski A. , Olejniczak W. , Pawłowski S. , Piskorski M.

Warianty tytułu

EN

STM/AFM microscope for application in industrial advanced technologies and the high schools education

• Języki publikacji: PL

Abstrakty

PL

W artykule przedstawiono zagadnienia konstrukcyjne związane z budową i oprogramowaniem tunelowego mikroskopu skaningowego oraz mikroskopu sił atomowych. Opracowane urządzenie łączy obydwie funkcje, a dostosowanie do spełniania jednej z nich odbywa się przez wymianę jednej z części głowicy pomiarowej oraz uruchomienia odpowiedniego fragmentu oprogramowania. Z uwagi na przeznaczenie mikroskopu do badań przemysłowych oraz do nauczania podstaw nanotechnologii w szkołach wyższych zostały zastosowane rozwiązania ułatwiające obsługę, a zwłaszcza proces wstępnej regulacji aparatury. Dzięki zastosowaniu modularnej konstrukcji aparatury oraz oprogramowania możliwe jest przystosowanie urządzenia do dalszej rozbudowy rozszerzającej zakres aplikacji.

EN

Construction matters connected with software of scanning tunneling microscope and atomic force microscope have been presented in the article. Those presented devices connect both functions and adaptation of one of the functions which is held by an exchange of one of the parts of the measure heads and by setting an appropriate part of the software in motion. Taking into consideration the fact that the microscope is going to be used in industrial tests as well as to teach basis of nanotechnology at universities, some solutions that made the operation easier have been used - especially the process of initial regulation of the device. Thanks to the implementation of modular construction of the device and the software it is possible to accommodate the device to extend the range of applications.

Słowa kluczowe

PL

mikroskop STM/AFM; magistrala VME; konstrukcja modułowa

EN

microscope STM/AFM; VME bus; modular construction

• Wydawca: Wydawnictwo Naukowe Instytutu Technologii Eksploatacji - Państwowego Instytutu Badawczego
• Czasopismo: Problemy Eksploatacji
• Rocznik: 2011
• Tom: nr 3
• Strony: 177--188
• Opis fizyczny: Bibliogr. 7 poz., rys.

Twórcy

autor

Majcher A.

autor

Mrozek M.

autor

Zbrowski A.

autor

Olejniczak W.

autor

Pawłowski S.

autor

Piskorski M.

• Instytut Technologii Eksploatacji - Państwowy Instytut Badawczy, Radom,

Bibliografia

• 1. Scanning Tunneling Microscopy and Its Application, Chunli Bai, Springer Series in Surface Sciences, 2000.
• 2. Atomic Force Microscopy/scanning Tunneling Microscopy, Cohen, Samuel H; Lightbody, Marcia L, Springer, 2004.
• 3. Noncontact Atomic Force Microscopy, praca zbiorowa pod red. S. Mority, Springer, 2002.
• 4. Atomic Force Microscopy in Adhesion Studies, praca zbiorowa pod red. Jarosława Drelicha, Brill Academic Pub, 2005.
• 5. Gotszalk T.P.: Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro- i nanostruktur, Oficyna Wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, Wrocław 2004.
• 6. Praca zbiorowa pod redakcją prof. R. Wiesendangera „Scanning Tunnelling Microscopy” Springer Verlag 2002.
• 7. Prospekty i strony internetowe firm Veeco, NTD, Molecular Imaging, Nano-Surf.